在半導體材料和器件的研究中，電性能測試是B不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導體技術的提升，微電子工藝逐漸復雜，如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進一步打通測試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過對半導體G端測試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統(tǒng)應運而生!
普賽斯數(shù)字源表SMU是整個測試系統(tǒng)的核心部分，用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流、電壓，配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺。

更高效:靈活測試：

體積小巧，節(jié)省實驗臺空間
接線簡單，無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應多種測量模式，如四探針、三同軸等

更可靠:廣泛應用：
利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺的測試系統(tǒng)，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。數(shù)字源表搭建微電子教學實驗平臺就找普賽斯儀表

武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用，市場應用率高；SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，直流更大、精度更高、準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業(yè)提供更加精準、穩(wěn)定的測試方案；數(shù)字源表搭建微電子教學實驗平臺認準普賽斯儀表