當(dāng)前位置:武漢普賽斯儀表有限公司>>半導(dǎo)體器件測試儀器儀表>>數(shù)字源表>> S200二維材料電性能分析數(shù)字源表
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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工作環(huán)境 | 25±10℃ | 測試范圍 | ±300mV~±300V/±100pA~±3A |
測試精度 | 0.03% |
二維材料電性能分析數(shù)字源表
源于超薄的厚度引起的量子限域效應(yīng),使得二維材料在透明電極、光電探測器、氣敏電阻、太陽能電池等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用?;魻栃?yīng)及電阻率是表征納米材料電性能的重要手段之一。
測試面臨的挑戰(zhàn)
電阻率及霍爾效應(yīng)測試均是加流測壓的過程,需要設(shè)備具備電流源以及電壓表的功能。
不同種類的材料,電阻范圍超寬,從mQ~GQ;
材料的電阻率及電子遷移率通常范圍較大,需要設(shè)備具備的電流范圍大。
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