在半導(dǎo)體材料和器件的研究中，電性能測(cè)試是B不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的提升，微電子工藝逐漸復(fù)雜，如何對(duì)微電子材料器件進(jìn)行高效率測(cè)試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的中點(diǎn)。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號(hào)國(guó)產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進(jìn)一步打通測(cè)試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過對(duì)半導(dǎo)體篙端測(cè)試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級(jí)微電子材料器件測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生!
普賽斯數(shù)字源表SMU是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的核心部分，用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流、電壓，配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺(tái)。高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)IV性能分析數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表

更高效:靈活測(cè)試：

體積小巧，節(jié)省實(shí)驗(yàn)臺(tái)空間
接線簡(jiǎn)單，無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應(yīng)多種測(cè)量模式，如四探針、三同軸等

更可靠:廣泛應(yīng)用：
利用普賽斯這套國(guó)產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺(tái)的測(cè)試系統(tǒng)，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測(cè)試。

目前，普賽斯儀表已擁有涵蓋直流源表、脈沖源表、窄脈沖源、大電流脈沖源、高電流源、高電壓源、大功率激光器測(cè)試電源、插卡式源表、數(shù)據(jù)采集卡、脈沖恒壓源等完整的國(guó)產(chǎn)化數(shù)字源表解決方案，可為不同領(lǐng)域、不同需求的用戶提供權(quán)方位的測(cè)試支持，打造高效、靈活的微電子材料器件測(cè)試系統(tǒng)！高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)IV性能分析數(shù)字源表就找武漢普賽斯