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武漢普賽斯儀表有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第3年

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當(dāng)前位置:武漢普賽斯儀表有限公司>>半導(dǎo)體器件測(cè)試儀器儀表>>半導(dǎo)體器件測(cè)試儀>> S100BMEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)

MEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)

參   考   價(jià): 1000

訂  貨  量: ≥1 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)S100B

品       牌普賽斯儀表

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地武漢市

更新時(shí)間:2024-01-02 12:52:52瀏覽次數(shù):335次

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產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 加工定制
通常,氣體傳感器 I-V 特性測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而,由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析,過程既復(fù)雜又耗時(shí),還占用過多測(cè)試臺(tái)的空間。實(shí)施I-V特性分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表,還可用作精密電子負(fù)載。MEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
  • 利用數(shù)字源表源(SMU)設(shè)備進(jìn)行氣體傳感器電性能測(cè)試
    I-V測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件(DUT)施加電壓或電流,然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng)。根據(jù)待測(cè)器件(DUT)的不同,信號(hào)電平可能相當(dāng)?shù)?,需要高靈敏度源和測(cè)量?jī)x器及測(cè)試技術(shù),最大限度地減少誤差的外部來源,而且需要有快的測(cè)試速度和高的測(cè)試可靠性做保證。
    通常,氣體傳感器I-V特性測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而,由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析,過程既復(fù)雜又耗時(shí),還占用過多測(cè)試臺(tái)的空間。而且,使用單一功能的測(cè)試儀器和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定度及更慢的總線傳輸速度等缺點(diǎn)。
    實(shí)施I-V特性分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表,還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。MEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表專員為您解答


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  • 數(shù)字源表(SMU)解決方案
    普賽斯各系列數(shù)字源表可以幫助用戶輕松W解決氣體傳感器測(cè)試中碰到的各種問題和需求,如:
    (1)實(shí)時(shí)測(cè)試多種材料在同一氣體條件下的電阻值的反應(yīng)靈敏度;
    (2)在低電壓下進(jìn)行下高范圍跨度(Ω、KΩ、MΩ、GΩ)的電阻測(cè)量,測(cè)試設(shè)備輸入電阻要求高
    (3)I/V 線掃描;
    (4)上位機(jī)實(shí)時(shí)顯示各不同氣敏電阻R/t曲線,并可記錄存檔

  •  
    方案一:S系列高精度數(shù)字源表+上位機(jī)軟件,搭建多通道測(cè)試方案
    S型源表集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體。電壓范圍從300uV~30V,電流從100pA~1A,輸出精度達(dá)到0.1%,Z大功率可達(dá)30W,能夠覆蓋0~50GΩ之間電阻值的傳感器測(cè)量。

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  • 方案二:CS1010C + CS100/CS400插卡式源表+上位機(jī)軟件,搭建多通道測(cè)試方案
    CS系列插卡式源表集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體。電壓范圍從300uV~30V,電流從100pA~1A,輸出精度達(dá)到0.1%,Z大功率可達(dá)30W,能夠覆蓋0~50GΩ之間電阻值的傳感器測(cè)量。

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    方案三:CS1010+ A400采集卡 + S100/CS100+上位機(jī)軟件,搭建多通道測(cè)試方案
    該方案主要由1臺(tái)CS1010主機(jī)、N張A400采集卡、1臺(tái)S100或者1張CS100子卡組成。A400采集精密電阻(R1)兩端的電壓值,所有測(cè)試通道采用并聯(lián)方式統(tǒng)一由S100/CS100進(jìn)行供電。
    A400數(shù)據(jù)采集卡:支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的高精度數(shù)據(jù)采集卡;使用高性能ADC芯片,分辨率可達(dá)16bits,最高支持2MS/s采樣率,輸入阻抗高達(dá)1GΩ。單采集卡支持4通道,且通道間隔離;配合CS1010主機(jī)最多能搭建40個(gè)測(cè)試通道,測(cè)試電阻范圍依賴于精密電阻的阻值大小。              


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  • 在傳感器研究的早期階段,利用I-V特性分析技術(shù),可以簡(jiǎn)化用于氣體檢測(cè)系統(tǒng)和分析儀器的傳感器合格驗(yàn)證。無(wú)論對(duì)于新材料、新技術(shù)研發(fā)還是傳感器的生產(chǎn)測(cè)試,將I-V特性分析技術(shù)用于各種傳感器和選擇Z佳測(cè)試儀器方面,普賽斯都是用戶值得信賴的合作伙伴!MEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)就找普賽斯儀表咨詢

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