半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ)，包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應(yīng)管等。 直流 I-V   測(cè)試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V  曲線，來決定器件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測(cè)參數(shù)各不相同，除此以外，新材料和新器件對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了更高的要求，要求測(cè)試設(shè)備具備更高的低電流測(cè)試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。分立器件   I-V 特性測(cè)試的主要目的是通過實(shí)驗(yàn)，幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本 I-V   特性參數(shù)，并在整個(gè)工藝流程結(jié)束后評(píng)估器件的優(yōu)劣。

數(shù)字源表作為電學(xué)測(cè)量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾乎都能看到，源表集多表合一、配上專業(yè)軟件即可實(shí)現(xiàn)各種定制測(cè)量，使用非常廣泛。

作為數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度數(shù)字源表，填補(bǔ)國產(chǎn)空白，集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，S系列Z大輸出電壓達(dá)300V，最小測(cè)試電流達(dá)100pA，全觸摸屏操作，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中:半導(dǎo)體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機(jī)材料與納米材料等特性測(cè)試和分析。半導(dǎo)體器件iv特性參數(shù)測(cè)試SMU源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表

產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作           

內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV

源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

Z大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

電流源：±3.15安（≤10V量程），±1.05安（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

過量程： 105%量程，源和測(cè)量；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV       Vp-p（典型值）；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80uV；

Z大采樣速率：1000 S/s；

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；

電源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 ×425mm長；

S系列源表應(yīng)用

分立器件特性測(cè)試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測(cè)試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測(cè)試：電阻率、霍爾效應(yīng)等；
有機(jī)材料特性測(cè)試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測(cè)試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測(cè)試：窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)；
電流傳感器：動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)；

選擇普賽斯儀表的理由

武漢普賽斯是國內(nèi)蕞早生產(chǎn)源表的廠家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗(yàn)、市面有近500臺(tái)源表在使用；

普賽斯儀表特色：高電流、高電壓測(cè)試，3500V電壓下可測(cè)量皮安級(jí)漏電流，1000A脈沖電流源15us的超快上升沿。更多有關(guān)半導(dǎo)體器件iv特性參數(shù)測(cè)試SMU源表信息找普賽斯儀表專員為您解答