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半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試儀iv+cv曲線分析
半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測(cè)試設(shè)備IV+CV曲線掃描儀
半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備iv+cv一鍵測(cè)量
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
---|---|---|---|
工作環(huán)境 | 25±10℃ | 測(cè)試范圍 | 0~300V/0~3A |
測(cè)試精度 | 0.1% |
半導(dǎo)體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極性晶體管(IGBT)等產(chǎn)品,半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試儀表高精度數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,普賽斯五合一高精度數(shù)字源表(SMU)可為高??蒲泄ぷ髡?、器件測(cè)試工程師及功率模塊設(shè)計(jì)工程師提供測(cè)量所需的工具,接線簡(jiǎn)單、方便操作
高精度數(shù)字源表IV掃描曲線圖:
利用數(shù)字源表簡(jiǎn)化半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試
豐富的半導(dǎo)體IV特性測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn);
全面的解決方案:二極管、MOSFET、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等;
提供適當(dāng)?shù)碾娎|輔件和測(cè)試夾具……
普賽斯高精度數(shù)字源表優(yōu)點(diǎn):
同時(shí)精確提供和測(cè)量電壓和/或電流;
同步測(cè)量,減少測(cè)試時(shí)間
提供和測(cè)量非常廣的電流和電壓;
電壓測(cè)試范圍30uV-300V,電流測(cè)試范圍1pA-1A
支持運(yùn)行用戶腳本程序,無需電腦控制,提高生產(chǎn)測(cè)試速度;
序列測(cè)試,簡(jiǎn)化操作,降低成本
采用用戶熟悉的圖形界面,不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富,使用起來都非常簡(jiǎn)便;
觸屏操作
與傳統(tǒng)電源比:
電源過零需要改變線連接方式;
增加需反復(fù)開關(guān)機(jī)械開關(guān),降低了設(shè)備可靠性
電壓電流限制精度有限;
電壓1%,電流10mA
與電源結(jié)合萬用表組合比:
萬用表電源組合需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步;
復(fù)雜連線、編程開發(fā)
電源限壓限流性能差
限壓限流精度低,瞬態(tài)特性也無法保證
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