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半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試儀iv+cv曲線分析
半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測(cè)試設(shè)備IV+CV曲線掃描儀
半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備iv+cv一鍵測(cè)量
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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工作環(huán)境 | 25±10℃ | 測(cè)試范圍 | 0~300V/0~3A |
測(cè)試精度 | 0.03% |
半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件(DUT)施加電壓或電流,然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng);通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí),還占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間。實(shí)施特性參數(shù)分析的工具之一是數(shù)字源表(SMU)。普賽斯歷時(shí)多年打造了高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、帥先國(guó)產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體??勺鳛楠?dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表,還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。
半導(dǎo)體分立器件是指以半導(dǎo)體材料為基礎(chǔ)的單一元件,包括各種半導(dǎo)體材料制成的二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅等,具有整流、放大、開(kāi)關(guān)、檢波,穩(wěn)壓、信號(hào)調(diào)制等多種功能,衡量晶體管性能好壞主要是通過(guò)I-V測(cè)試或C-V測(cè)試來(lái)提取晶體管的基本特性參數(shù),并在整個(gè)工藝結(jié)束后評(píng)估器件的優(yōu)劣。
半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件(DUT)施加電壓或電流,然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng);通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析,過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí),還占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間。而且使用單一功能的測(cè)試儀器和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定度及更慢的總線傳輸速度等缺點(diǎn)。
實(shí)施特性參數(shù)分析的工具之一是半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀之數(shù)字源表(SMU)。普賽斯歷時(shí)多年打造了高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、帥先國(guó)產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體??勺鳛楠?dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表,還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。普賽斯“五合一"高精度數(shù)字源表(SMU)可為高??蒲泄ぷ髡?、器件測(cè)試工程師及功率模塊設(shè)計(jì)工程師提供測(cè)量所需的工具。不論使用者對(duì)源表、電橋、曲線跟蹤儀或示波器是否熟悉,都能簡(jiǎn)單而迅速地得到精確的結(jié)果。
普賽斯“五合一"高精度數(shù)字源表
普賽斯源表輕松實(shí)現(xiàn)二極管特性參數(shù)分析
二極管是一種使用半導(dǎo)體材料制作而成的單向?qū)?電性元器件,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)一般為單個(gè)PN結(jié)結(jié)構(gòu),只允許 電流從單一方向流過(guò)。發(fā)展至今,已陸續(xù)發(fā)展出整流二 極管、肖特基二極管、快恢復(fù)二極管、PIN二極管、光電 二極管等,具有安全可靠等特性,廣泛應(yīng)用于整流、穩(wěn)壓、保護(hù)等電路中,是電子工程上用途廣泛的電子元器件之一。IV特性是表征半導(dǎo)體二極管PN結(jié)制備性能的主要參數(shù)之一,二極管IV特性主要指正向特性和反向特性等;
普賽斯S系列、P系列源表簡(jiǎn)化場(chǎng)效應(yīng)MOS管I-V特性分析
MOSFET(金屬—氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是 一種利用電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制其電流大小的常見(jiàn)半導(dǎo)體器件,可以廣泛應(yīng)用在模擬電路和數(shù)字電路當(dāng)中,MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳納米管 等材料制作,是材料及器件研究的熱點(diǎn)。主要參數(shù)有輸入/輸出特性曲線、閾值電壓 VGS(th)、漏電流IGSS、 IDSS,擊穿電壓VDSS、低頻互導(dǎo)gm、輸出電阻RDS等。
普賽斯數(shù)字源表快速、準(zhǔn)確進(jìn)行三極管BJT特性分析
三極管是半導(dǎo)體基本元器件之一,具有電流放大作用,是電子電路的核心元件。三極管是在一塊半導(dǎo)體 基片上制作兩個(gè)相距很近的PN結(jié),兩個(gè)PN結(jié)把整塊 半導(dǎo)體分成三部分,中間部分是基區(qū),兩側(cè)部分是發(fā)射 區(qū)和集電區(qū)。設(shè)計(jì)電路中常常會(huì)關(guān)注的參數(shù)有電流放大系數(shù)β、極間反向電流ICBO、ICEO、集電極最大允許電流ICM、反向擊穿電壓VEBO、VCBO、VCEO以及三極管的輸入輸出特性曲線等參數(shù)。
普賽斯五合一高精度數(shù)字源表(SMU)在半導(dǎo)體IV特性測(cè)試方面擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),為半導(dǎo)體分立器件電性能參數(shù)測(cè)試提供全面的解決方案,包括二極管、MOS管、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等。此外,普賽斯儀表還提供適當(dāng)?shù)碾娎|輔件和測(cè)試夾具,實(shí)現(xiàn)安全、精確和可靠的測(cè)試。欲了解更多半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的信息,認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表!
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