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半導體電學參數(shù)測試設(shè)備IV+CV曲線掃描儀
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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測試范圍 | 0~300V/0~3A | 測試精度 | 0.03% |
工作環(huán)境 | 25±10℃ |
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,半導體特性曲線分析儀找武漢普賽斯儀表
產(chǎn)品簡介
S系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的帥先國產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大輸出電壓達300V,Z小電流分辨率3pA,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件,功率器件,傳感器,有機材料與納米材料等特性測試和分析。
產(chǎn)品特點
5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作
內(nèi)置強大的功能軟件,加速用戶完成測試,如LIV、PIV
源及測量的準確度為0.03%
四象限工作(源和肼),源及測量范圍:高至300V,低至3pA
豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲,一鍵導出測試報告
支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
S系列源表技術(shù)參數(shù)
Z大輸出功率:30W,4象限源或肼模式;
源限度:電壓源:±10V(≤3A量程),±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);
電流源:±3.15A(≤10V量程),±1.05A(≤30V量程),±105mA(≤300V量程);
過量程: 105%量程,源和測量;
穩(wěn)定負載電容:<22nF;
寬帶噪聲(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);
線纜保護電壓:輸出阻抗30KΩ,輸出電壓偏移<80uV;
最大采樣速率:1000 S/s;
觸發(fā):支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置;
輸出接口:前后面板香蕉頭插座輸出,同一時刻只能用前或者后面板接口;
通信口:RS-232、GPIB、以太網(wǎng);
電源:AC 100~240V 50/60Hz;
工作環(huán)境:25±10℃;
尺寸:106mm高 × 255mm寬 × 425mm長;
半導體特性曲線分析儀應用
分立器件特性測試:電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量與效率特性測試:LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器;
傳感器特性測試:電阻率、霍爾效應等;
有機材料特性測試:電子墨水、印刷電子技術(shù)等;
納米材料特性測試:石墨烯、納米線等;
激光器特性測試:窄脈沖LIV測試系統(tǒng);
功率器件:靜態(tài)測試系統(tǒng);
電流傳感器:動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng);
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