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武漢普賽斯儀表有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第3年

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當(dāng)前位置:武漢普賽斯儀表有限公司>>半導(dǎo)體器件測(cè)試儀器儀表>>數(shù)字源表>> S100S系列場(chǎng)效應(yīng)管I-V曲線掃描源表

S系列場(chǎng)效應(yīng)管I-V曲線掃描源表

參   考   價(jià): 1000

訂  貨  量: ≥1 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)S100

品       牌普賽斯儀表

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地武漢市

更新時(shí)間:2024-01-01 21:20:32瀏覽次數(shù):523次

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產(chǎn)地 國產(chǎn) 加工定制
測(cè)試范圍 0~300V/0~3A 測(cè)試精度 0.03%
工作環(huán)境 25±10℃
普賽斯S系列場(chǎng)效應(yīng)管I-V曲線掃描源表國產(chǎn)自主研發(fā),性價(jià)比高,測(cè)試范圍更廣,輸出電壓高達(dá)300V,支持USB存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出報(bào)告,符合大環(huán)境下國內(nèi)技術(shù)自給的需求,可及時(shí)與客戶溝通,為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案,及時(shí)指導(dǎo)客戶編程,加速測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)

MOSFET(金屬—氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是一種利用電場(chǎng)效應(yīng)來控制其電流大小的常見半導(dǎo)體 器 件,可 以 廣 泛 應(yīng) 用 在 模 擬 電 路 和 數(shù) 字 電 路 當(dāng) 中 。  MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳納米管 等材料制作,是材料及器件研究的熱點(diǎn)。主要參數(shù)有輸入/輸出特性曲線、閾值電壓 VGS(th)、漏電流IGSS、  IDSS,擊穿電壓VDSS、低頻互導(dǎo)gm、輸出電阻RDS等。


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      受器件結(jié)構(gòu)本身的影響,在實(shí)驗(yàn)室科研工作者或者測(cè)試工程師常見會(huì)碰到以下測(cè)試難題:

(1)由于MOSFET是多端口器件,所以需要多個(gè)測(cè) 量模塊協(xié)同測(cè)試,而且MOSFET動(dòng)態(tài)電流范圍大,測(cè)試  時(shí)需要量程范圍廣,測(cè)量模塊的量程需要可以自動(dòng)切 換;

(2)柵氧的漏電與柵氧質(zhì)量關(guān)系極大,漏電增加到 一定程度即可構(gòu)成擊穿,導(dǎo)致器件失效,因此MOSFET  的漏電流越小越好,需要高精度的設(shè)備進(jìn)行測(cè)試;

(3)隨著MOSFET特征尺寸越來越小,功率越來越  大,自加熱效應(yīng)成為影響其可靠性的重要因素,而脈沖測(cè)試可以減少自加熱效應(yīng),利用脈沖模式進(jìn)行MOSFET的I-V測(cè)試可以準(zhǔn)確評(píng)估、表征其特性;

(4)MOSFET的電容測(cè)試非常重要,且與其在高頻應(yīng)用有密切關(guān)系。不同頻率下C-V曲線不同,需要進(jìn)行多頻率、多電壓下的C-V測(cè)試,表征MOSFET的電容特性。


    使用普賽斯S系列高精度數(shù)字源表、P系列高精度  臺(tái)式脈沖源表對(duì)MOSFET常見參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。


S系列場(chǎng)效應(yīng)管I-V曲線掃描源表輸入/輸出特性測(cè)試

       MOSFET是用柵電壓控制源漏電流的器件,在某一固定漏源電壓下,可測(cè)得一條IDs~VGs關(guān)系曲線,對(duì)應(yīng)一組階梯漏源電壓可測(cè)得一簇直流輸入特性曲線。 MOSFET在某一固定的柵源電壓下所得IDS~VDS  關(guān)系即為直流輸出特性,對(duì)應(yīng)一組階梯柵源電壓可測(cè) 得一簇輸出特性曲線。 根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景的不同,MOSFET器件的功率規(guī)格  也不一致。針對(duì)1A以下的MOSFET器件,推薦2臺(tái)S系 列源表搭建測(cè)試方案,最大電壓300V,最大電流1A,  最小電流100pA,可以滿足小功率MOSFET測(cè)試的需求。

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       針對(duì)最大電流為1A~10A的MOSFET功率器件,推 薦采用2臺(tái)P系列脈沖源表搭建測(cè)試方案,其最大電壓  300V,最大電流10A。

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   針對(duì)最大電流為10A~100A的MOSFET功率器件,  推薦采用P系列脈沖源表+HCP搭建測(cè)試方案,最大電 流高達(dá)100A。

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閾值電壓VGS(th)

    VGS(th)是指柵源電壓能使漏極開始有電流的VG  S 值;測(cè)試儀表推薦S系列源表。


漏電流測(cè)試

    GSS(柵源漏電流)是指在特定的柵源電壓情況下  流過柵極的漏電流;IDSS(零柵壓漏極電流)是指在當(dāng)  VGS=0時(shí),在Z定的VDS下的DS之間漏電流,測(cè)試時(shí)推  薦使用一臺(tái)普賽斯S系列或P系列源表;


耐壓測(cè)試

   VDSS(漏源擊穿電壓):是指在VGS=0的條件下,增  加漏源電壓過程中使ID開始劇增時(shí)的VDS值;  根據(jù)器件的規(guī)格不同,其耐壓指標(biāo)也不一致,測(cè)試 所需的儀表也不同,擊穿電壓在300V以下推薦使用S  系列臺(tái)式源表或P系列脈沖源表,其最大電壓300V,擊穿電壓在300V以上的器件推薦使用E系列,最大電壓3500V。

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C-V測(cè)試

  C-V測(cè)量常用于定期監(jiān)控集成電路的制造工藝,通 過測(cè)量MOS電容高頻和低頻時(shí)的C-V曲線,可以得到  柵氧化層厚度tox、氧化層電荷和界面態(tài)密度Dit、平帶 電壓Vfb、硅襯底中的摻雜濃度等參數(shù)。 分別測(cè)試Ciss(輸入電容)、Coss(輸出  電容)以及Crss(反向傳輸電容)。


S系列場(chǎng)效應(yīng)管I-V曲線掃描源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集,Y秀的性價(jià)比,良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持,普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家,產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善,對(duì)標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2651、2657等;

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