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貴金屬檢測(cè)X熒光光譜儀 EDX1800B-原子熒光光譜

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貴金屬檢測(cè)X熒光光譜儀 EDX1800B
根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求，特別設(shè)計(jì)該款EDX1800B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。

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產(chǎn)品詳細(xì):貴金屬檢測(cè)X熒光光譜儀 EDX1800B

貴金屬檢測(cè)X熒光光譜儀 EDX1800B儀器介紹針對(duì)EDX1800在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求，特別設(shè)計(jì)該款EDX1800B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。性能特點(diǎn) 下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn) 高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率技術(shù)指標(biāo) 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）分析檢出限可達(dá)1ppm 分析含量一般為1ppm到99.99％任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1％（含量96％以上） *工作穩(wěn)定性為0.1％（含量96％以上）溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃ 電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源能量分辨率：160±5eV 外觀尺寸： 550×416×333mm 樣品腔尺寸：460×298×98mm 重量：45Kg 標(biāo)準(zhǔn)配置移動(dòng)樣品平臺(tái) 信噪比增強(qiáng)器電制冷Si-PIN探測(cè)器信號(hào)檢測(cè)電子電路高低壓電源大功率X光管計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 應(yīng)用領(lǐng)域 RoHS檢測(cè)分析地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)

關(guān)鍵詞：光譜儀高壓電源標(biāo)準(zhǔn) 低壓電源打印機(jī)