當(dāng)前位置:武漢市艾德寶儀器設(shè)備有限公司>>美國魯?shù)婪?/a>>>分析儀>> ZetaView QUATTPMX納米顆粒追蹤分析儀
產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
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Particle Metrix 致力于拓寬ZetaView納米顆粒追蹤分析儀經(jīng)典型號(hào)PMX-120的應(yīng)用領(lǐng)域,現(xiàn)已將納米顆粒追蹤分析儀從單激光升級為四激光。488nm、520nm、640nm激發(fā)光可在散射模式和熒光模式間自動(dòng)切換。無論在標(biāo)準(zhǔn)NTA或Z-NTA模式下納米顆粒追蹤分析儀均可記錄顆粒在散射模式和熒光模式下的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)。
主要特征:
熒光模式下可同時(shí)測定生物標(biāo)記物的粒徑和濃度
高靈敏CMOS相機(jī)與高過濾能力、短發(fā)光時(shí)間等技術(shù)結(jié)合讓ZetaView熒光NTA在熒光模式下測定小顆粒納米粒子成為可能。
二合一-表面電位Z-NTA與熒光F-NTA
分子表面電荷和分子表面熒光反應(yīng)兩個(gè)參數(shù)均可與顆粒表面結(jié)合。ZetaView將F-NTA和Z-NTA巧妙結(jié)合到一起。亞群分析軟件可提供更多顆粒信息。
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