測量范圍

測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計數(shù)

顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑。可檢測的最小濃度為105粒子/cm3，最大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，最大體積濃度為1000ppm。

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。