目錄:廣東科寶試驗(yàn)設(shè)備有限公司>>冷熱沖擊試驗(yàn)箱>>溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)>> 觸屏數(shù)控高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)用原理
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更新時(shí)間：2024-11-06 18:38:37瀏覽次數(shù)：697評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
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觸屏數(shù)控高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)用原理
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
本系列產(chǎn)品根據(jù)試品使用的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊。既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可作單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)：
《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》GB2423.22-93
《溫度沖擊試驗(yàn)》GJB 150.5-86
《溫度沖擊方法》GJB 360.7-87
《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 11158-2008
《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10592-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》GBT 2423.2-2008
注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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