目錄:廣東科寶試驗(yàn)設(shè)備有限公司>>恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)>>步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房>> 防護(hù)服恒溫恒濕老化室操作指南
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更新時(shí)間:2024-11-05 11:42:46瀏覽次數(shù):1021評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
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防護(hù)服恒溫恒濕老化室操作指南
防護(hù)服恒溫恒濕老化室操作指南
產(chǎn)品簡介:
高溫老化室/恒溫老化室 是針對(duì)計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車用電子產(chǎn)品,PCB,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、電器、交換式充電器等高性能電子產(chǎn)品模擬一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,從而提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。
產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法 Bb
GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)低溫試驗(yàn)方法:試驗(yàn) A
GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定溫?zé)嵩囼?yàn)方法 Cab
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變溫?zé)嵩囼?yàn)方法 Db
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:溫?zé)嵩囼?yàn)
GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定溫?zé)嵩囼?yàn)
GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變溫?zé)嵩囼?yàn)
GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法 411 溫?zé)嵩囼?yàn)
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)
GB10592-2006 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 (每立方米負(fù)載不大
于 35kg/m3 鋼的熱容量 溫?zé)嵩囼?yàn)時(shí)無有源濕、熱負(fù)載)
注:產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談;另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)