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局部放電測試允許制造商確保他們的產(chǎn)品在發(fā)生故障之前具有較長的使用壽命。這種信心使產(chǎn)品可以安裝在難以更換和/或維修環(huán)境的設(shè)備中。

什么是局部放電？

局部放電是由電壓差產(chǎn)生的微小電暈的運動。電暈是微不足道的，它將通過看似堅固的電介質(zhì)絕緣材料找到路徑，用于保護設(shè)備免于電擊穿故障。

介電材料將具有夾雜物，可能是由于材料的組成和可以在兩種材料（容器的塑料和放置在容器中的灌封物）之間的空隙。這兩種材料可能看起來彼此接觸，因此沒有間隙，但是，如果接觸不是粘合劑并且材料*集成，則可能存在氣隙。電暈的連續(xù)沖擊將擴大這些間隙，終導(dǎo)致高壓擊穿失敗。

這種擴大材料之間的間隙以終導(dǎo)致高壓擊穿的過程可能需要10年的時間，然而，這仍然可以比預(yù)期的操作壽命小得多。

如何測試局部放電？

局部放電測試包括以下階段：

1.設(shè)置初始電壓： 

在電路的兩個應(yīng)該相互保護的部分之間緩慢地引入增加的電壓差（高于項目將暴露的電壓差）。當(dāng)放電增加，并且由于電壓的增加達到規(guī)定的水平（通常為5pC）時，電暈將開始損壞絕緣并被分類為達到其“起始電壓”。

2.保持它：

一旦初始水平已知，則測試電壓在該水平保持一段時間。

3.發(fā)現(xiàn)消光電壓：

測試電壓分階段降低，并監(jiān)測放電水平以確認其下降。當(dāng)放電水平達到規(guī)定水平時，發(fā)生這種情況的電壓被歸類為“消光電壓”