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NexION 5000 ICP-MS新一代創(chuàng)新接口設計的優(yōu)勢

閱讀：2095 發(fā)布時間：2020-07-23

具有OmniRing的第二代三錐接口的新型設計專為NexION 5000 ICP-MS而研發(fā)，兼顧了靈敏度和穩(wěn)定性。該設計以三錐接口幾何結構為基礎，基于簡單高效的OmniRing技術提供了*的應對空間電荷效應的解決方案。該設計從ICP-MS理想接口的諸多特性著手，通過減少離子流提高了傳輸效率，與此同時，還以受控的方式實現了離子通過接口后的加速，而不會將高能離子傳輸到下游離子光學系統(tǒng)中。結果是在沒有提高儀器本底水平的情況下，大大提高了分析物的信號強度。通過這種新型接口設計，能夠在強健等離子體條件下，直接以亞ppt級的背景等效濃度對復雜基質進行分析。除了提高靈敏度，該接口設計還使NexION 5000 ICP-MS在處理具有挑戰(zhàn)性的基體時，彰顯出的穩(wěn)定性。這要歸功于三級壓降系統(tǒng)，以及將那些如錐和離子透鏡等易于樣品沉積和離子濺射的表面進行盡量小化處理的設計。

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