快速溫變實(shí)驗(yàn)箱

產(chǎn)品篩選:通過溫度和濕度循環(huán)可使您在發(fā)現(xiàn)之前檢測出產(chǎn)品存在的潛在缺陷，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)

技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：A:0～150、B:-20～150℃、C:-40～150℃、D-60～150℃、E:-70～150℃

濕度范圍：20～98％RH

溫度波動范圍：±0.3℃（-70～+100℃）±0.5℃（+100.1～+150℃）±2.5﹪rh

溫度均勻性：  TEE-150PF、225PF、408PF、600PF

            1、±1.0℃（-70～+100℃）

               ±1.5℃（+100.1～+150℃）

            TEE-800PF、1000PF

            2、±1.5℃（-70～+100℃）

               ±2.0℃（100～+150℃）  

升溫時間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

          線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）

降溫時間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

          線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）

控 制 器：進(jìn)口可編程觸摸式液晶中文對話式顯示.微電腦集成控制器

精度范圍：設(shè)定精度：溫度0.1℃、濕度1％RH，指示精度：溫度0.1℃、濕度1％RH

傳 感 器：鉑金電阻 PT100Ω/MV

快速溫變實(shí)驗(yàn)箱