【儀表網(wǎng) 儀表企業(yè)】2017年7月12日，牛津儀器Asylum Research部門總結(jié)了二維材料領(lǐng)域的新研究進展，撰寫了針對二維材料領(lǐng)域的應用手冊，期望通過該手冊讓研究者更詳細地了解AFM在二維材料研究中的作用。
自2004年發(fā)現(xiàn)剝離的石墨烯以來，二維材料領(lǐng)域一直是當今科研的熱點。目前對二維材料的研究已不僅局限于石墨烯材料，各種新型的二維材料以及相關(guān)的制備方法將二維材料的研究推至一個新的高度。原子力顯微鏡能直接測試和表征各種二維材料的獨特性能。
Asylum Research應用科學家Keith Jones 解釋到 ： “做為一種高分辨率的成像表征工具，AFM 能夠輕易的測量原子臺階厚度以及原子晶格結(jié)構(gòu)來表征二維材料。除此之外， AFM能夠從納米尺度表征材料的電學，力學和功能特性。 AFM 不僅僅能夠表征表面形貌，其更大的作用在于能夠表征下一代功能器件中的二維材料性能。
Asylum Research 原子力顯微鏡 Cypher 和 MFP-3D 系列已被廣泛的用來進行超高分辨率成像、納米電學、納米力學的性能表征。Asylum的產(chǎn)品的操作越來越簡單，功能模式越來越多。無論研究者是否具有過使用AFM的經(jīng)驗都可以利用我們的產(chǎn)品進行二維材料的研究。
(原文標題：原子力顯微鏡——表征石墨烯及下一代二維材料不可或缺的工具)
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