2023年3月23日

科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界lingdao者賽默飛世爾科技（以下簡稱：賽默飛）與上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院（以下簡稱：上海計(jì)測院）共建的“集成電路檢測技術(shù)應(yīng)用示范實(shí)驗(yàn)室”揭牌儀式在上海張江舉辦。

賽默飛色譜質(zhì)譜業(yè)務(wù)中國區(qū)商務(wù)副總裁沈嚴(yán)先生和上海計(jì)量測試技術(shù)研究院張麗虹院長及眾嘉賓為示范實(shí)驗(yàn)室揭牌

（從左至右：姚垚 賽默飛色譜與質(zhì)譜業(yè)務(wù)市場總監(jiān)，劉雪燕 賽默飛色譜與質(zhì)譜業(yè)務(wù)高級(jí)銷售總監(jiān)，沈嚴(yán) 賽默飛色譜與質(zhì)譜業(yè)務(wù)中國區(qū)商務(wù)副總裁，張麗虹 上海計(jì)量測試技術(shù)研究院院長，吳建英 上海市計(jì)測院副院長）

賽默飛色譜質(zhì)譜業(yè)務(wù)中國區(qū)商務(wù)副總裁沈嚴(yán)和上海市計(jì)測院副院長吳建英共同簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議

上海市計(jì)測院是guojiaji分析測試中心、華東大區(qū)計(jì)量測試中心，圍繞集成電路科技創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)發(fā)展需求建設(shè)的上海市電子化學(xué)品計(jì)量檢測專業(yè)技術(shù)服務(wù)平臺(tái)，以痕量和超痕量檢測技術(shù)研究為支撐，致力于解決集成電路相關(guān)產(chǎn)業(yè)高精度測量難題，集研發(fā)服務(wù)、產(chǎn)品檢測、設(shè)備計(jì)量、標(biāo)準(zhǔn)化研究、人員培訓(xùn)為一體，為集成電路全產(chǎn)業(yè)鏈提供一站式的計(jì)量檢測整體服務(wù)。賽默飛能為集成電路及相關(guān)行業(yè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)提供多層次的技術(shù)支撐，包括痕量和超痕量雜質(zhì)檢測解決方案，以及應(yīng)對(duì)未知物探索和反應(yīng)機(jī)理拓展的gaoduan研發(fā)應(yīng)用，覆蓋從集成電路支撐材料、制造到封裝測試等各個(gè)環(huán)節(jié)提供穩(wěn)健可靠的分析方法，幫助半導(dǎo)體客戶全面提升良率。

當(dāng)前，集成電路已成為加速數(shù)字經(jīng)濟(jì)賦能升級(jí)、支撐新基建高質(zhì)量發(fā)展的核心產(chǎn)業(yè)，隨著芯片制程的不斷縮小，集成電路相關(guān)材料檢測的要求也達(dá)到了新的高度。長三角區(qū)域是我國集成電路產(chǎn)業(yè)實(shí)力zuiqiang、規(guī)模zui為聚集的區(qū)域之一。賽默飛與上海市計(jì)測院憑借各自技術(shù)創(chuàng)新優(yōu)勢(shì)，聚焦集成電路材料檢測，共建集成電路檢測技術(shù)應(yīng)用示范實(shí)驗(yàn)室，雙方簽訂戰(zhàn)略合作協(xié)議，圍繞集成電路檢測方法研究、技術(shù)交流等方面開展合作，共同開發(fā)集成電路材料的關(guān)鍵測量技術(shù)，將更好地服務(wù)集成電路產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展。

雙方會(huì)談

揭牌儀式上，上海市計(jì)測院院長張麗虹表示

上海市計(jì)測院聚焦重點(diǎn)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，不斷地提高集成電路材料檢測的技術(shù)能級(jí)，技術(shù)水平逐步從成熟工藝制程延伸到先進(jìn)工藝制程。共建的合作實(shí)驗(yàn)室將圍繞集成電路材料的檢測方法研究、技術(shù)交流，共同開發(fā)集成電路材料關(guān)鍵測量技術(shù)，共同推進(jìn)集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

賽默飛色譜和質(zhì)譜業(yè)務(wù)中國區(qū)商務(wù)副總裁沈嚴(yán)表示

賽默飛與上海市計(jì)測院已開展了16年的友好合作，在集成電路檢測領(lǐng)域， 賽默飛能提供色譜質(zhì)譜、光譜領(lǐng)域zuiquan面的分析解決方案，賽默飛期待合作實(shí)驗(yàn)室的成立，能發(fā)揮雙方在各自的優(yōu)勢(shì)領(lǐng)域，為客戶帶來全新價(jià)值！

揭牌儀式后，參會(huì)嘉賓一行參觀了上海市計(jì)測院超長、聲學(xué)、核磁和場發(fā)射掃描電鏡等實(shí)驗(yàn)室。

上海市計(jì)測院院長張麗虹介紹實(shí)驗(yàn)室布局

嘉賓合影