CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀電渦流測(cè)量原理
  高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基越近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀測(cè)量原理
  采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應(yīng)膜厚儀
來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀使用須知

1.在使用膜厚計(jì)前，請(qǐng)閱讀操作安全須知及使用手冊(cè)

2.請(qǐng)勿將膜厚計(jì)靠近任何產(chǎn)生強(qiáng)力磁場(chǎng)或者靜電場(chǎng)的裝置，此舉可能會(huì)導(dǎo)致膜厚計(jì)故障。

3.請(qǐng)勿暴露于腐蝕性或者可燃性氣體下使用膜厚計(jì)。此舉可能會(huì)破壞沒(méi)偶后繼或者產(chǎn)生爆炸。

4.請(qǐng)勿在直接收到日光照射或者結(jié)露的環(huán)境下使用膜厚計(jì)，此舉可能會(huì)導(dǎo)致膜厚計(jì)發(fā)生變形或者絕緣層杯破壞，或者導(dǎo)致膜厚計(jì)特性超出規(guī)格。

5.一點(diǎn)校正：必須在每次量測(cè)時(shí)實(shí)行此動(dòng)作

6.兩點(diǎn)校正：建議在常用測(cè)試點(diǎn)實(shí)行此動(dòng)作以增加量測(cè)的準(zhǔn)確性。

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀操作說(shuō)明

開(kāi)機(jī)與關(guān)機(jī)

1.確保膜厚計(jì)感應(yīng)器前端遠(yuǎn)離任何的底材或者磁場(chǎng)

2.壓下扳手直至畫(huà)面有顯示后放開(kāi)扳手，等待畫(huà)面顯示“um”或“mils”及HOLD后才可量測(cè)。

3.自動(dòng)電源關(guān)閉功能（APO）：15秒沒(méi)有任何操作膜厚計(jì)動(dòng)作的話，膜厚計(jì)電源將會(huì)自動(dòng)關(guān)閉以延長(zhǎng)電池壽命。

CMI900英國(guó)進(jìn)口牛津膜厚儀

  膜厚儀又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

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