456涂層測厚儀
   適用于各種金屬基體的涂層測量，性能*，經(jīng)濟實用，特色
   * 基本型操作簡單，經(jīng)濟耐用；標準型具數(shù)據(jù)輸出功能，可連接計算機進行數(shù)據(jù)處理和打??；高級型，功能更趨完善。度身設計配合不
   同應用。
   * 整體探頭可直接入在涂層上讀數(shù)，簡單易用，有鐵基、非鐵基、二合一標準式控頭可供選擇。
   * 分離式探頭有標準式、直角式及伸縮式設計，其中標準式、直角式探頭適用于各種金屬基體的平面、曲面深層測量，有鐵基、、非鐵
   基三合一標準式及直角式探頭可供選擇；伸縮式探頭適用于鋼鐵基體圓形工件的涂層測量，只有鐵基探頭可供選擇。
   * 測量范圍0~1500um，分辯率0.1um（0-20um）/1um（20um以上），精確度：±3%或2.5um（參考有關產(chǎn)品詳細說明書）。
   * 配PINIPTM可于整體式探頭上直接插用分離式探頭。
   * 456為2001年elcometer型號，人性化設計，外型流暢，易于把握。