可程式高低溫測試箱控制器溫度控制儀表采用（韓國三元）進(jìn)口數(shù)顯高精度集成控制器；
精度：0.1℃（顯示范圍） ；溫度傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；控制方式：熱平衡調(diào)溫方式；溫度控制采用P·I·D+S·S·R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制；具有自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定；
序號 | 型號 | 工作尺寸(mm) | 溫度范圍 | 外形尺寸(mm) | ||
1 | RY-GDW-01 | 350*350*400 |
-20-+150℃ -40-+150℃ -50-+150℃ -60-+150℃ -70-+150℃ -80-+150℃ -90-+150℃
| 870*850*1420 | ||
2 | RY-GDW-02 | 400*400*500 | 920*900*1520 | |||
3 | RY-GDW-03 | 400*500*500 | 1020*1000*1620 | |||
4 | RY-GDW-04 | 500*500*600 | 1120*1100*1720 | |||
5 | RY-GDW-05 | 500*600*750 | 1120*1200*1850 | |||
6 | RY-GDW-06 | 600*800*850 | 1220*1400*1950 | |||
7 | RY-GDW-07 | 700*800*900 | 1320*1400*2000 | |||
8 | RY-GDW-08 | 800*1000*1000 | 1420*1600*2050 | |||
9 | RY-GDW-09 | 1000*1000*1000 | 1620*1600*2050 | |||
技術(shù)指標(biāo) | 溫度波動度≤±0.5℃（可按要求提高至0.1℃) | |||||
溫度均勻度≤±2℃(可按要求提高至0.5℃) | ||||||
溫度偏差≤±2℃ | ||||||
濕度誤差≤＋2%-3%R.H | ||||||
降溫速率1℃/min(可按需要提升至10.℃) | ||||||
升溫速率2-3℃/min(可按需要提升至10.℃) | ||||||
快速降溫3-5℃/min | ||||||
快速升溫3-5℃/min | ||||||
噪音≤65dB（以上均為空載） | ||||||
制冷 | 系統(tǒng) | 進(jìn)口壓縮機(jī)組/單級壓縮制冷，二元復(fù)疊壓縮制冷 | ||||
制冷劑 | 環(huán)保制冷劑404AR-23 | |||||
冷卻 | 風(fēng)冷 | |||||
傳感器 | 溫度 | 高精度級鉑金電阻A(PT100) | ||||
濕度范圍 | 30%-98%（可按要求定做） | |||||
箱體材質(zhì) | 工作室 | SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼板 | ||||
外箱體 | SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼油發(fā)紋板或?qū)氫摾滠堜摪屐o電噴塑， | |||||
保溫 | 超細(xì)玻璃棉 | |||||
控制 | 交流接觸器和熱繼電器采用法國施耐德 中間繼電器采用歐姆龍 其他元器件均為國內(nèi)品牌德力西 | |||||
設(shè)備使用條件 | 溫度：15℃~35℃ | |||||
相對濕度：不大于85%RH | ||||||
周圍無強(qiáng)烈振動、無強(qiáng)烈電磁場影響 | ||||||
周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) | ||||||
無陽光直接照射或其它熱源直接輻射 | ||||||
周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上 | ||||||
可程式高低溫測試箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
可程式高低溫測試箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
溫度試驗(yàn)設(shè)備 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫濕度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱滿足GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A《低溫試驗(yàn)方法》； GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B《高溫試驗(yàn)方法》；GB/T 2423.3-2006試驗(yàn)C《恒定濕熱方法》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行各種高低溫濕熱環(huán)境試驗(yàn)。
