主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn):
? 一個緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器
? 接觸檢測功能確保了高速及準(zhǔn)確的測量
? 每秒10,000個讀數(shù)和5,500個源-測量點(diǎn)記錄到存儲器，提供了更快速的測試
? 內(nèi)置的測試腳本處理器（TSP™）提供非并行系統(tǒng)的自動化測試，將I-V測試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍
? 2600系列提供寬動態(tài)范圍：1pA到10A，1μV到200V
? TSP-Link™主/從控制架構(gòu)將多臺2600數(shù)字源表無縫地整合成一個系統(tǒng)，將其作為一臺獨(dú)立的儀器進(jìn)行編程和控制
? 免費(fèi)的測試腳本編輯軟件--Test Script Builder，可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測試腳本，實(shí)現(xiàn)用戶特定的測試功能
? 免費(fèi)的LabTracerTM2.0 軟件，無需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線，易學(xué)易用
? 每個40W,3A的通道都是獨(dú)立的，從而保證了高度的測量完整性和配置的靈活性
? 業(yè)界zui高的SMU機(jī)架密度特別適合自動化測試的應(yīng)用
2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個靈活的、高效的、性價(jià)比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測量測試。基于zui初2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測量技術(shù)，2600系列儀器在I-V測試應(yīng)用中能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測試速度。它們還具備更高的源測量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時間內(nèi)可同時提供I和V測量值 （10,000 讀數(shù)/s），源-測量掃描速度為200μs每點(diǎn) （5,500 點(diǎn)/s）。這種高速的源-測量能力加上*的自動化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測試的理想方案。
無需主機(jī)的靈活系統(tǒng)
2600系列結(jié)合了創(chuàng)新的技術(shù)從而可以經(jīng)濟(jì)的建立多通道I-V測試系統(tǒng)而無需犧牲產(chǎn)能。TSP-Link是高速的系統(tǒng)擴(kuò)展連接，可讓您以主/從配置連接多臺2600系列儀器。
一旦連接配置完成，系統(tǒng)內(nèi)所有的2600系列儀器都可以在主機(jī)的控制下進(jìn)行編程和操作，而且不需要機(jī)架/主機(jī)，TSP-Link給您實(shí)質(zhì)上的無限靈活，從而調(diào)節(jié)系統(tǒng)通道的數(shù)量來匹配變化的應(yīng)用需求，同時確保無縫集成。
新性能增加測試速度并降低測試成本
測試腳本處理器（TSP）
測試腳本處理器（TSP）是2600具有的另一項(xiàng)新技術(shù)，任何基于2600系列的系統(tǒng)都可以在主單元的TSP上高速的運(yùn)行嵌入式測試腳本。測試序列被嵌入儀器中的處理器上處理并執(zhí)行，而不是由外部的PC控制，由此消除了GPIB傳輸導(dǎo)致的延遲。對同一臺儀器，使用TSP測試腳本可以獲得的吞吐量是使用PC程序通過GPIB接口時吞吐量的10倍。TSP測試腳本可以從前面板或通過系統(tǒng)的GPIB接口加載并運(yùn)行。只需一個運(yùn)行于主單元的TSP測試腳本，就可以控制系統(tǒng)中所有的源-測量通道，并可以從任何連接到TSP-Link的2600系列儀器中采集數(shù)據(jù)，zui多可支持64臺2600互聯(lián)在一起。
TSP用于*的自動化
一個基于2600系列的系統(tǒng)可以作為一個完整的自動化測量方案而獨(dú)立工作，適用于半導(dǎo)體器件或元器件測試，由主控的2600單元來進(jìn)行激勵、測量、通過/失效判斷、測試序列流程控制、分級篩選、元器件分選機(jī)或探針臺控制。與已嵌入的測試程序裝置相比，TSP測試腳本具有更好的編程靈活性，包括支持：
2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個靈活的、高效的、性價(jià)比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測量測試。基于zui初2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測量技術(shù)，2600系列儀器在I-V測試應(yīng)用中能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測試速度。它們還具備更高的源測量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時間內(nèi)可同時提供I和V測量值 （10,000 讀數(shù)/s），源-測量掃描速度為200μs每點(diǎn) （5,500 點(diǎn)/s）。這種高速的源-測量能力加上*的自動化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測試的理想方案。
無需主機(jī)的靈活系統(tǒng)
2600系列結(jié)合了創(chuàng)新的技術(shù)從而可以經(jīng)濟(jì)的建立多通道I-V測試系統(tǒng)而無需犧牲產(chǎn)能。TSP-Link是高速的系統(tǒng)擴(kuò)展連接，可讓您以主/從配置連接多臺2600系列儀器。
一旦連接配置完成，系統(tǒng)內(nèi)所有的2600系列儀器都可以在主機(jī)的控制下進(jìn)行編程和操作，而且不需要機(jī)架/主機(jī)，TSP-Link給您實(shí)質(zhì)上的無限靈活，從而調(diào)節(jié)系統(tǒng)通道的數(shù)量來匹配變化的應(yīng)用需求，同時確保無縫集成。
新性能增加測試速度并降低測試成本
測試腳本處理器（TSP）
測試腳本處理器（TSP）是2600具有的另一項(xiàng)新技術(shù)，任何基于2600系列的系統(tǒng)都可以在主單元的TSP上高速的運(yùn)行嵌入式測試腳本。測試序列被嵌入儀器中的處理器上處理并執(zhí)行，而不是由外部的PC控制，由此消除了GPIB傳輸導(dǎo)致的延遲。對同一臺儀器，使用TSP測試腳本可以獲得的吞吐量是使用PC程序通過GPIB接口時吞吐量的10倍。TSP測試腳本可以從前面板或通過系統(tǒng)的GPIB接口加載并運(yùn)行。只需一個運(yùn)行于主單元的TSP測試腳本，就可以控制系統(tǒng)中所有的源-測量通道，并可以從任何連接到TSP-Link的2600系列儀器中采集數(shù)據(jù)，zui多可支持64臺2600互聯(lián)在一起。
TSP用于*的自動化
一個基于2600系列的系統(tǒng)可以作為一個完整的自動化測量方案而獨(dú)立工作，適用于半導(dǎo)體器件或元器件測試，由主控的2600單元來進(jìn)行激勵、測量、通過/失效判斷、測試序列流程控制、分級篩選、元器件分選機(jī)或探針臺控制。與已嵌入的測試程序裝置相比，TSP測試腳本具有更好的編程靈活性，包括支持：
?儀器命令隊(duì)列
? 通用的模塊化子程序
? 通過/失效和限制測試
? 靈活的分支和循環(huán)能力
? 靈活的外部觸發(fā)
? 智能數(shù)字I/O讀寫能力
? RS-232通訊
第三代SMU設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)更快的測試速度 2600系列的新SMU設(shè)計(jì)大大提高了測試速度。例如，較早的設(shè)計(jì)使用了并聯(lián)的電流量程布局，2600系列使用了建立更迅速的串聯(lián)量程布局（申請中），這提供了更快且更平滑的量程變換和輸出。它也允許對電流輸出限制的編程獨(dú)立于電流量程，用于電容性負(fù)載的快速充電和實(shí)驗(yàn)臺使用中更直覺的操作。
每個2600系列數(shù)字源表的通道都提供高度的靈活性、具有電壓和電流表/限制器的四象限電源。每個通道都可被設(shè)置為一個：
第三代SMU設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)更快的測試速度 2600系列的新SMU設(shè)計(jì)大大提高了測試速度。例如，較早的設(shè)計(jì)使用了并聯(lián)的電流量程布局，2600系列使用了建立更迅速的串聯(lián)量程布局（申請中），這提供了更快且更平滑的量程變換和輸出。它也允許對電流輸出限制的編程獨(dú)立于電流量程，用于電容性負(fù)載的快速充電和實(shí)驗(yàn)臺使用中更直覺的操作。
每個2600系列數(shù)字源表的通道都提供高度的靈活性、具有電壓和電流表/限制器的四象限電源。每個通道都可被設(shè)置為一個：
? 精密電源 （高達(dá)200V和3ADC/10A脈沖輸出，具有1pA讀回分辨率）
? 精確電流源
? 數(shù)字多用表（直流電壓、直流電流、電阻、電源，具有五位半分辨率）
? 電源V或I脈沖發(fā)生器（脈沖寬度：150μs或更長－僅源；250μs或更長－源和測量）
? 電源V或I波形發(fā)生器（20點(diǎn)正弦波在TSP測試腳本中可高達(dá)400Hz）
? 電子負(fù)載
具有同時源回讀能力的高速高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器
各款2600系列儀器都提供四象限操作并可被串聯(lián)或并聯(lián)來擴(kuò)展動態(tài)范圍。在一三象限，它們作為源，對負(fù)載輸送功率。在二四象限，它們作為熱沉，在內(nèi)部耗散功率。它們以五位半的分辨率同時測量電壓和電流，并顯示電壓、電流、電阻或功率讀數(shù)。
每通道兩個模數(shù)轉(zhuǎn)換器（分別用于I和V）可同時工作，提供精確的源回讀而不犧牲測試速度。這些模/數(shù)轉(zhuǎn)換器提供可編程的集成比率，允許用戶進(jìn)行優(yōu)化，以實(shí)現(xiàn)高速度（>10,000讀數(shù)/秒,在 0.001NPLC設(shè)置時）或高分辨率（高達(dá)24位,在 0.001NPLC設(shè)置時）來進(jìn)行高準(zhǔn)確度的測量。
數(shù)字I/O接口
每個2600系列儀器的背面板端口都提供14位通用數(shù)字I/O，可將儀器連接到多種流行的機(jī)械手以實(shí)現(xiàn)測試后的分選和裝箱。這些I/O線也兼容Keithley較早的Trigger Link儀器觸發(fā)技術(shù)。這些線路可以容易的將2600系列儀器集成為一個使用外部儀器的系統(tǒng)，包括2400系列數(shù)字源表儀器、7000系列開關(guān)主機(jī)和2700系列數(shù)據(jù)采集/多用表集成系統(tǒng)。
內(nèi)置接觸檢測功能
接觸檢測功能可以在自動測試序列開始前簡單而迅速的檢驗(yàn)連接是否良好。這消除了與接觸疲勞、破損、污染、松弛或損壞的連接、繼電器失效等有關(guān)的測量誤差和產(chǎn)品失效誤判。
圖形化的儀器設(shè)置。LabTracer2.0支持多達(dá)八個2600或2400系列數(shù)字源表通道。2400和2410數(shù)字源表還支持電壓擴(kuò)展能力。LabTracer2.0的儀器設(shè)置窗口的下拉菜單中可以配置數(shù)字源表的任意通道，來進(jìn)行定點(diǎn)或掃描操作。配置完成后，只需一次按鍵即可執(zhí)行測試。
從研發(fā)到函數(shù)測試的I-V測試應(yīng)用
2600系列數(shù)字源表為研發(fā)測試提供易于使用、功能強(qiáng)大的解決方案。同時滿足批量產(chǎn)品測試所需的速度和可靠性。
功能強(qiáng)大且易于使用，適合研發(fā)應(yīng)用
在研發(fā)和器件特性分析環(huán)境中，無論是用于交互式還是自動化測試，2600系列都具備高度的測試通用性?？擅赓M(fèi)下載的LabTracer2.0軟件使用戶能夠迅速、方便的配置并控制多達(dá)八個2600或2400系列數(shù)字源表通道，可用于曲線追蹤或器件特性分析。其簡明的圖形化用戶界面可以從數(shù)字源表上方便的實(shí)現(xiàn)建立、控制、數(shù)據(jù)采集和DUT數(shù)據(jù)繪圖。將LabTracer和數(shù)字源表配合使用，是特別適合實(shí)驗(yàn)室用戶的功能強(qiáng)大、易用且經(jīng)濟(jì)的機(jī)架式方案。
測試完成后，數(shù)據(jù)顯示在電子表格面板和圖形面板中?？梢酝ㄟ^對結(jié)果應(yīng)用公式來對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。對于更詳細(xì)的分析，只需簡單的剪切和粘貼，數(shù)據(jù)即可被導(dǎo)出到Microsoft® Excel中。
大幅提高產(chǎn)品測試產(chǎn)能
2600系列儀器幫助元器件制造商大幅度提高測試產(chǎn)能，同時提供能處理如今器件的測試方案。如今的器件通常比早期的器件有更高的管腳數(shù)和模擬電路。過去，制造商迫于缺乏為多通道源-測量應(yīng)用而優(yōu)化的測試方案，不得不在笨重、昂貴的基于主機(jī)的系統(tǒng)、由PC控制的緩慢的基于儀器的系統(tǒng)和需要復(fù)雜的開發(fā)才能實(shí)現(xiàn)的快速的基于儀器的系統(tǒng)之間做出選擇。2600系列提供：
具有同時源回讀能力的高速高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器
各款2600系列儀器都提供四象限操作并可被串聯(lián)或并聯(lián)來擴(kuò)展動態(tài)范圍。在一三象限，它們作為源，對負(fù)載輸送功率。在二四象限，它們作為熱沉，在內(nèi)部耗散功率。它們以五位半的分辨率同時測量電壓和電流，并顯示電壓、電流、電阻或功率讀數(shù)。
每通道兩個模數(shù)轉(zhuǎn)換器（分別用于I和V）可同時工作，提供精確的源回讀而不犧牲測試速度。這些模/數(shù)轉(zhuǎn)換器提供可編程的集成比率，允許用戶進(jìn)行優(yōu)化，以實(shí)現(xiàn)高速度（>10,000讀數(shù)/秒,在 0.001NPLC設(shè)置時）或高分辨率（高達(dá)24位,在 0.001NPLC設(shè)置時）來進(jìn)行高準(zhǔn)確度的測量。
數(shù)字I/O接口
每個2600系列儀器的背面板端口都提供14位通用數(shù)字I/O，可將儀器連接到多種流行的機(jī)械手以實(shí)現(xiàn)測試后的分選和裝箱。這些I/O線也兼容Keithley較早的Trigger Link儀器觸發(fā)技術(shù)。這些線路可以容易的將2600系列儀器集成為一個使用外部儀器的系統(tǒng)，包括2400系列數(shù)字源表儀器、7000系列開關(guān)主機(jī)和2700系列數(shù)據(jù)采集/多用表集成系統(tǒng)。
內(nèi)置接觸檢測功能
接觸檢測功能可以在自動測試序列開始前簡單而迅速的檢驗(yàn)連接是否良好。這消除了與接觸疲勞、破損、污染、松弛或損壞的連接、繼電器失效等有關(guān)的測量誤差和產(chǎn)品失效誤判。
圖形化的儀器設(shè)置。LabTracer2.0支持多達(dá)八個2600或2400系列數(shù)字源表通道。2400和2410數(shù)字源表還支持電壓擴(kuò)展能力。LabTracer2.0的儀器設(shè)置窗口的下拉菜單中可以配置數(shù)字源表的任意通道，來進(jìn)行定點(diǎn)或掃描操作。配置完成后，只需一次按鍵即可執(zhí)行測試。
從研發(fā)到函數(shù)測試的I-V測試應(yīng)用
2600系列數(shù)字源表為研發(fā)測試提供易于使用、功能強(qiáng)大的解決方案。同時滿足批量產(chǎn)品測試所需的速度和可靠性。
功能強(qiáng)大且易于使用，適合研發(fā)應(yīng)用
在研發(fā)和器件特性分析環(huán)境中，無論是用于交互式還是自動化測試，2600系列都具備高度的測試通用性?？擅赓M(fèi)下載的LabTracer2.0軟件使用戶能夠迅速、方便的配置并控制多達(dá)八個2600或2400系列數(shù)字源表通道，可用于曲線追蹤或器件特性分析。其簡明的圖形化用戶界面可以從數(shù)字源表上方便的實(shí)現(xiàn)建立、控制、數(shù)據(jù)采集和DUT數(shù)據(jù)繪圖。將LabTracer和數(shù)字源表配合使用，是特別適合實(shí)驗(yàn)室用戶的功能強(qiáng)大、易用且經(jīng)濟(jì)的機(jī)架式方案。
測試完成后，數(shù)據(jù)顯示在電子表格面板和圖形面板中?？梢酝ㄟ^對結(jié)果應(yīng)用公式來對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。對于更詳細(xì)的分析，只需簡單的剪切和粘貼，數(shù)據(jù)即可被導(dǎo)出到Microsoft® Excel中。
大幅提高產(chǎn)品測試產(chǎn)能
2600系列儀器幫助元器件制造商大幅度提高測試產(chǎn)能，同時提供能處理如今器件的測試方案。如今的器件通常比早期的器件有更高的管腳數(shù)和模擬電路。過去，制造商迫于缺乏為多通道源-測量應(yīng)用而優(yōu)化的測試方案，不得不在笨重、昂貴的基于主機(jī)的系統(tǒng)、由PC控制的緩慢的基于儀器的系統(tǒng)和需要復(fù)雜的開發(fā)才能實(shí)現(xiàn)的快速的基于儀器的系統(tǒng)之間做出選擇。2600系列提供：
? 目前基于SMU系統(tǒng)中zui高的密度，以應(yīng)對不斷增長的管腳數(shù)。
? 業(yè)界zui快的吞吐速度，幫助減少測試成本。板上處理器的速度和TSP測試腳本再加上由TSP-Link總線提供的觸發(fā)同步，使高速并行測試的應(yīng)用成為現(xiàn)實(shí)。
? 更低的開銷。通過消除對主機(jī)/機(jī)架的需求，允許測試工程師靈活的配置系統(tǒng)，從而獲得顯著低于其它方案的每通道成本。
測試腳本編輯軟件
est Script Builder是一款免費(fèi)軟件，隨2600系列數(shù)字源表提供，幫助用戶建立、修改、調(diào)試和存儲TSP測試腳本。它提供一個項(xiàng)目/文件管理器窗口來存儲和組織測試腳本，文本敏感的程序編輯器（類似Visual Baisic）用于創(chuàng)建和修改測試TSP代碼，并且即時控制窗口能發(fā)送GPIB指令并從儀器接收數(shù)據(jù)。即時窗口可以查看已有的測試腳本，且便于調(diào)試。
典型應(yīng)用
• 對多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測試和特性分析，包括：
- 分立的和無源的元器件
- 雙引腳 - 電阻、盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物變阻器（MOV）、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
- 三引腳 - 雙極型小信號晶體管（BJT）場效應(yīng)晶體管（FET）等
- 并行測試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
- 簡單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器
• 集成的器件－小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）.
- 模擬IC
- 射頻集成電路（RFIC）
- 應(yīng)用定制的集成電路
- 系統(tǒng)級芯片（SOC）器件
• 光電器件如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直共振腔面射型激光器（VCSEL）、顯示器
• 上述器件的研發(fā)和特性分析
測試腳本編輯軟件
est Script Builder是一款免費(fèi)軟件，隨2600系列數(shù)字源表提供，幫助用戶建立、修改、調(diào)試和存儲TSP測試腳本。它提供一個項(xiàng)目/文件管理器窗口來存儲和組織測試腳本，文本敏感的程序編輯器（類似Visual Baisic）用于創(chuàng)建和修改測試TSP代碼，并且即時控制窗口能發(fā)送GPIB指令并從儀器接收數(shù)據(jù)。即時窗口可以查看已有的測試腳本，且便于調(diào)試。
典型應(yīng)用
• 對多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測試和特性分析，包括：
- 分立的和無源的元器件
- 雙引腳 - 電阻、盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物變阻器（MOV）、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
- 三引腳 - 雙極型小信號晶體管（BJT）場效應(yīng)晶體管（FET）等
- 并行測試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
- 簡單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器
• 集成的器件－小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）.
- 模擬IC
- 射頻集成電路（RFIC）
- 應(yīng)用定制的集成電路
- 系統(tǒng)級芯片（SOC）器件
• 光電器件如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直共振腔面射型激光器（VCSEL）、顯示器
• 上述器件的研發(fā)和特性分析
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