美國國家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品
IEC61340-2-1標準規(guī)范的模板設備
可以測試固體,粉體,液體材料的靜電衰減時間
同時測試靜電衰減時間和電容負載
可直接放置在成型材料上測試
量程:10毫秒-99小時
分辨率:10毫秒
電暈放電電壓:0-9.9KV(可以選擇正負極性)
衰減比例:可設置1%-99%
同時測量環(huán)境溫濕度
特別設計氣閘效應,消除殘留空氣離子干擾
高精度靜電壓測試探頭
配套JCI176樣品臺可測量轉移到測試料樣上的電量,并計算出電容負載
配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期
配套JCI-Graph軟件遠端控制儀器,顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線,形成報告,分析/打印/儲存
JCI155v6:包含以下物品
靜電衰減分析儀
JCI176試樣臺(放置試樣,并測試電容負載)
JCI173試樣杯(放置粉體或液體材料)
測試儀和試樣臺連接線纜
接地線
長USB數(shù)據(jù)線(用于連接電腦)
短USB數(shù)據(jù)線(用于外接U盤)
配套軟件
供應英國*靜電衰減分析儀供應英國*靜電衰減分析儀數(shù)據(jù)。