全反射X射線熒光光譜儀的工作原理（TXRF）
X射線熒光光譜分析法（XRF）的原理：原子受原級(jí)X射線激發(fā)后，發(fā)出次級(jí)X射線熒光。因此，XRF 分析法可以：
? 根據(jù)熒光的波長(zhǎng)和能量，確定元素；
? 各元素的濃度可根據(jù)熒光的強(qiáng)度進(jìn)行計(jì)算。
X射線由Mo靶或W靶產(chǎn)生，在Ni/C人工多層膜上反射并單色化。扁平的光束以非常小的角度（0.3 – 0.6 °）掠射裝有樣品的樣品架，并產(chǎn)生全反射。樣品
主要技術(shù)特點(diǎn)
? 可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至，檢出限到2pg。
? 需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內(nèi)。
圖2.4 S2 PICOFOX
? *的便攜式全反射熒光儀，設(shè)備小巧，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，不需要任何輔助設(shè)備及氣體、液氮等，可拿到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析。
? 1位及25位全自動(dòng)進(jìn)樣器兩款設(shè)計(jì)，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動(dòng)分析。
? 第四代XFlash®SDD硅漂移探測(cè)器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps。
? 由于全反射無(wú)背景，熒光強(qiáng)度與元素含量直接成正比。標(biāo)準(zhǔn)曲線工廠已校準(zhǔn)好，用戶不需要標(biāo)樣就可以進(jìn)行定量分析。
? 應(yīng)用：水、廢水、土壤中的污染元素；血液、尿液、組織中的有毒元素；食品、醫(yī)藥、刑偵、環(huán)保、陶瓷、水泥、建材、地質(zhì)等領(lǐng)域。
