導電型號測試儀 導電型號檢測儀 型號：LDX-KDK-STY-1
LDX-KDK-STY—1型導電型號測試儀是嚴格按照ASTM F42（非本征半導體材料導電類型的標準測試方法）中的熱探針法設(shè)計的導電類型鑒別儀。
本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在40-60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導體材料上產(chǎn)生的熱電動勢，經(jīng)低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后，用
導電型號測試儀 導電型號檢測儀
型號：LDX-KDK-STY-1
LDX-KDK-STY—1型導電型號測試儀是嚴格按照ASTM F42（非本征半導體材料導電類型的標準測試方法）中的熱探針法設(shè)計的導電類型鑒別儀。
本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在40-60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導體材料上產(chǎn)生的熱電動勢，經(jīng)低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后，用寬表面檢流計指示型號方向，并可定量測出熱電流的數(shù)值大小。儀器靈敏度可調(diào)，可在廣泛的電阻率（從1000Ω·cm高阻單晶到10-4Ω·cm重摻單晶）范圍內(nèi)判別半導體材料型號。
二、技術(shù)性能
1、可判別鍺、硅材料的電阻率范圍：
鍺：非本征鍺～10-4Ω·cm
硅：104～10-4Ω·cm
實驗證明：在室溫情況下，對于電阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法結(jié)果可靠。
2、熱電流測量范圍：0～±1μA 分六個量程：
±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA
Z大偏轉(zhuǎn)靈敏度：1×10-11A/格
3、鍺、硅單晶直徑及長度：不受限制。
4、顯示方式：中心刻度為零位的寬表面指針指示器，指針向正方向偏轉(zhuǎn)被測樣品為P型，指針向負方向偏轉(zhuǎn)被測樣品為N型。
5、探針：選用ASTM F42標準中建議的不銹鋼作探針材料，針尖為60°錐體，熱筆溫度自動保持在40-60℃范圍內(nèi)。冷筆與室溫相同。
6、電源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供電，耗電小于10W。
7、外型尺寸：170×160×230（mm）
8、重量：約2.5kg
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