ETS-406D靜電衰減測(cè)試儀適用范圍：
406D測(cè)試儀可用于實(shí)驗(yàn)室以分析材料自身的靜電特性、評(píng)估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。同時(shí)該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來(lái)進(jìn)行靜電特性檢測(cè)和監(jiān)測(cè)。
ETS-406D靜電衰減測(cè)試儀 符合標(biāo)準(zhǔn)：美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)，美國(guó)軍標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國(guó)GB 19082，中國(guó)軍標(biāo)GJB2625
ETS-406D靜電衰減測(cè)試儀 產(chǎn)品詳細(xì)：
406D靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法，是符合美國(guó)軍標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測(cè)試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測(cè)材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)、美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)、美國(guó)軍標(biāo)MIL-B-81705C、中國(guó)GB 19082，中國(guó)軍標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試;金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無(wú)損測(cè)試IC芯片包裝管;選配806B無(wú)損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間。
配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過(guò)配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過(guò)測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下，放置在806B無(wú)損電極上后，可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣。
注：由于產(chǎn)品性能和功能的創(chuàng)新及改進(jìn)，產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格亦會(huì)相應(yīng)改變，恕不另行通知，請(qǐng)以實(shí)時(shí)參數(shù)為準(zhǔn)。本公司保留修改權(quán)與終解釋權(quán)。
我公司致力于為生產(chǎn)廠和貿(mào)易商提供專業(yè)的一站式實(shí)驗(yàn)室技術(shù)服務(wù)，并同國(guó)內(nèi)外多家企業(yè)達(dá)成了*的合作協(xié)議，提供各類材料測(cè)試儀器及技術(shù)服務(wù)。通過(guò)引進(jìn)*的產(chǎn)品，整合技術(shù)和服務(wù)優(yōu)勢(shì)，吸收常見問(wèn)題的解決經(jīng)驗(yàn)，為國(guó)內(nèi)客戶提供優(yōu)化方案，帶動(dòng)國(guó)內(nèi)科研及相關(guān)行業(yè)水平的提高。咨詢。
