一、專業(yè)生產(chǎn)三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性沖擊試驗(yàn),冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測試工具。
二、專業(yè)生產(chǎn)三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
3.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A；
5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B；
6.GB2423.22溫度變化試驗(yàn),試驗(yàn)N；
7.IEC68-2-14試驗(yàn)N；
8.國軍標(biāo)GJB150.3-86；
9.國軍標(biāo)GJB150.4-86；
10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法；
11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法；
三、技術(shù)參數(shù)
型 號(hào) | TDS-40 | TDS-50 | TDS-60 | TDS-70 | TDS-80 | TDS-90 | ||
內(nèi)箱尺寸 （W×D×H）cm | 40×35×35 | 50×40×40 | 60×50 ×50 | 70×60 ×60 | 80×70 ×70 | 90×80 ×80 | ||
外箱尺寸 （W×D×H）cm | 138×140×180 | 150×150×190 | 155×155 ×205 | 165×165 ×215 | 175×175 ×225 | 185×190 ×235 | ||
1.沖擊溫度范圍：-20℃～+150℃,-40℃～+150℃,-55℃～+150℃,-65℃～+150℃。
2.高溫槽溫度上限：+170℃。
3.低溫槽溫度下限：-70℃。
4.溫度偏差：±2℃。
5.溫度波動(dòng)度：±0.5℃。
6.溫度恢復(fù)時(shí)間：5min。
7.溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
8.試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)。
9.試品重量：≤3kg。
10.高溫室升溫時(shí)間：30min(+25℃～+170℃)。
11.低溫室降溫時(shí)間：65min(+25℃～-55℃)。
12.噪音：（dB）≤65。
13.使用電源：AC380V±10%,50/60Hz。
