存儲(chǔ)測(cè)試箱,高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢:
一、存儲(chǔ)測(cè)試箱,高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱適用范圍:
適用于國(guó)防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒、耐干性能及研發(fā),質(zhì)量管理工程之試驗(yàn)規(guī)范。
二、滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)。A:低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》.
三、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
3.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B. GB/T2423.34-2005高、低、溫度組合循環(huán)試驗(yàn)。
四、存儲(chǔ)測(cè)試箱,高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù):
ZT-CTH-80L-G
ZT-CTH-120L-G
ZT-CTH-150L-G
ZT-CTH-225L-G
ZT-CTH-306L-G
ZT-CTH-408L-G
ZT-CTH-800L-G
ZT-CTH-1000L-G
1.溫度范圍 :0℃/-20~℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-85℃~+150℃(選用)
2.控制穩(wěn)定度 :±0.5℃
3.分布均勻度 :±1.5℃
4.溫度偏差: ≤±2℃
5.正常升溫時(shí)間 :+20℃~+150℃小于45分鐘。
6.正常降溫時(shí)間 :+20~-20℃小于45分鐘
+20~-40℃小于60分鐘
+20~-50℃小于65分鐘
+20~-60℃小于70分鐘
+20~-70℃小于75分鐘
+20~-85℃小于100分鐘.
五、存儲(chǔ)測(cè)試箱,高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu):整體結(jié)構(gòu)為體式開
1.內(nèi)箱材質(zhì):SUS 304# 不銹鋼板
2.外箱材質(zhì):SUS 304#不銹鋼板/特殊防銹處理冷軋板噴塑烤漆(電腦白色)
六、工作內(nèi)尺寸:
ZT-CTH-80L-G W寬40XH高50XD深40cm
ZT-CTH-120L-G W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150L-G W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225L-G W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306L-G W寬60XH高85XD深60cm
ZT-CTH-408L-G W寬60XH高85XD深80cm
ZT-CTH-800L-G W寬100XH高100XD深80cm
ZT-CTH-1000L-G W寬100XH高100XD深100cm