MIKRON M315 X-HT中溫大面源

Mikron M315X-HT黑體校準源滿足紅外焦平面陣列檢測器，熱成像儀，和FLIR系統(tǒng)在投影場景和現(xiàn)場應用測試在需要更高的溫度的嚴格參數(shù)。

M315X-HT黑體源通過精密加熱元件電阻加熱，以提供均勻的溫度分布。兩件式系統(tǒng)由控制器模塊和用于發(fā)射源的單獨外殼組成。

發(fā)射器源溫度控制由精密數(shù)字PID控制器執(zhí)行，該控制器安裝在7英寸（180毫米）高19英寸機架安裝式機箱中。 

方形大面積源，校準紅外熱像儀系統(tǒng)、輻射計、熱流量計、光譜分析儀，通過精確的熱電模塊冷卻或者加熱。中溫型號。

MIKRON M315 X-HT中溫大面源優(yōu)勢

從4 x 4 in到12 x 12 in的四種孔徑中選擇
校準并驗證高溫計，熱成像儀等的輸出信號。
實現(xiàn)高精度和可重復性
用精密數(shù)字PID控制器控制發(fā)射源溫度
高發(fā)射率，具有穩(wěn)定的穩(wěn)定性和均勻性
帶有精確加熱元件的均勻溫度分布
配有可追溯至NIST的校準證書
RS232（標準）或RS485串行通訊
穩(wěn)定的RTD確保系統(tǒng)的*溫度穩(wěn)定性

(環(huán)境溫度 +5) ... 600°C

加熱及發(fā)射腔體形狀:

熱均勻面

輻射率：

有效輻射率= 0.9999, 波段： 1…1.07μm

有效輻射率=0.975, 波段：8…14 μm

(其他波段的輻射率溫度校準表有效)

標準校準方法：

熱輻射校準

發(fā)射面尺寸：

M 315 X4-HT: 101 x 101 mm

M 315 X6-HT: 152 x 152 mm

M 315 X8-HT: 204 x 204 mm

M 315 X12-HT: 305 x 305 mm 

溫度精度:

1°C (<100°C) 至1.3°C ( 400°C) 

平均升溫時間：

60 分鐘 (至 600°C)

尺寸 [mm] (HxD) / 重量:

X4: 280 x 254 x 280 to X12: 510 x 660 x 585

控制模塊: 178 x 483 x 593