Agilent 8509B/C 偏振控制分析儀
Agilent 8509B/C 偏振控制分析儀
Agilent 8509B/C 偏振控制分析儀
安捷倫8509B光波偏振分析儀
安捷倫8509B光波偏振分析儀系統(tǒng)的*個系統(tǒng)是一個提供校準(zhǔn)的偏振的光信號的測量和組件。這些新功能提供創(chuàng)新的硬件，軟件和數(shù)學(xué)。硬件的貢獻(xiàn)包括一個的四個二極管檢測方案，包括1200納米至1600納米。單波長，1300和1550 nm的法布里 - 珀羅激光器，以及一個自動的三態(tài)偏振發(fā)生器中所提供內(nèi)安捷倫8509B。也可用于外部單波長或波長掃描來源。兩個自動偏振模色散（PMD）測量;瓊斯矩陣本征分析和掃描波長IME的狀態(tài)和偏振度的測量
快速，自動測量的光學(xué)元件中的偏振相關(guān)損耗
HP8509B光偏振分析儀
AGILENT 8509B光波極化分析儀可對光信號或光器件進行校準(zhǔn)過的極化測試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎(chǔ)之上的.8509B可提供包括極化狀態(tài)測試、極化模式色散測試、極化相關(guān)損耗測試和極化保偏光纖對準(zhǔn)等功能。
特點：
1.對光信號和光器件進行全面的極化狀態(tài)分析
2.兩種PMD分析方法：波長掃描法和JONES矩陣法
3.極化保偏光纖的對準(zhǔn)
AGILENT 8509B光波極化分析儀可對光信號或光器件進行校準(zhǔn)過的極化測試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎(chǔ)之上的.8509B可提供包括極化狀態(tài)測試、極化模式色散測試、極化相關(guān)損耗測試和極化保偏光纖對準(zhǔn)等功能。
Agilent 8509C產(chǎn)品簡介
Agilent 8509C光偏振分析儀覆蓋L波段，可對光信號和元件進行寬工作范圍的測量。自動的測量步驟簡化了PMD、PDL和保偏光纖對準(zhǔn)。對于10至40Gb/s測試，8509C可測量至0.01ps的偏振模式色散。對光信號和材料偏振特性的快速和精確的測量可幫助開發(fā)更高性能的光元件和系統(tǒng)，以及低成本的制造流程。
性能特性：
波長工作范圍： 1280 nm 至 1640 nm
分辨率： 1 fs
偏振狀態(tài)測量速率： >3500 ∕秒
PMD 測量范圍： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取決于設(shè)置條件)
