一、儀器特點(diǎn)：
RJTC-9000型涂層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的*水平。
二、應(yīng)用范圍：
本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
三、工作原理：
RJTC-9000型型涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
四、技術(shù)參數(shù)
        1、測(cè)量范圍：　　0~9000μm
        2、測(cè)量誤差：　　<3%±1μm
        3、Z小示值：　　1μm
4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
  （1）.測(cè)量：    單探頭全量程測(cè)厚
  （2）.存儲(chǔ)：    可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)
  （3）.存讀讀出：　　讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù)
  （4）.校正：      隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)試片校正
  （5）.打?。?/span>        選配微型打印機(jī)
  （6）.背光：        采用*的EL自動(dòng)背光
  （7）.關(guān)機(jī)：     Z后一次測(cè)量后8分鐘左右自動(dòng)關(guān)機(jī)
  （8）通訊：     通過232串口與微機(jī)通訊
6、電源：   3.6v充電電池
7、功耗：  Z大功耗100mw
8、外形盡寸：   50 *95 *24mm3
9、重量：　　　　　90g
10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體Z小厚度：    0.2mm
12、Z小曲率半徑：    凸:1.5mm     凹:6mm
14、欠電壓指示：       左上角顯示＂＂
*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。

       第二章  應(yīng)用方法
閱本章內(nèi)容時(shí)，應(yīng)結(jié)合儀器，對(duì)照附圖，熟悉儀器外部結(jié)構(gòu)及各部位名稱。
 一、開機(jī)前準(zhǔn)備：根據(jù)電池倉(cāng)蓋指示方向打開電池倉(cāng)，電池正極朝外放入一節(jié)3.6v電池，壓好電池倉(cāng)蓋。        
二、按鍵名稱及作用
A."開"健，為復(fù)合健。在關(guān)機(jī)狀態(tài)時(shí)，為開機(jī)鍵；在開機(jī)狀態(tài)時(shí)，為關(guān)機(jī)鍵；儀器在自動(dòng)關(guān)機(jī)后應(yīng)按住此鍵可開機(jī)。
B."號(hào)"鍵,為菜單鍵。
C."+"、"-"鍵,為復(fù)合鍵
D."HL":僅在校準(zhǔn)樣片時(shí)有效,作用為在校準(zhǔn)樣片時(shí)把測(cè)量值確認(rèn)為其樣片真實(shí)值。
 E."ET":在菜單中選擇某一功能狀態(tài)。
三、使用方法
1.開機(jī)：先取開探頭線插在儀器上，然后按動(dòng)“開”鍵后，儀器進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)（探頭與鐵基或磁場(chǎng)的距離保持10cm以上），開機(jī)進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)后顯示屏顯示圖A所示：
2.校準(zhǔn):
通過樣片校準(zhǔn)后,該參數(shù)存入儀器,方便以后調(diào)出直接測(cè)量,儀器上電后可以直接從鐵基開始校準(zhǔn)。
把探頭放在被測(cè)件的毛坯上（一定要打磨光滑）或隨機(jī)攜帶的鐵基試塊上,屏幕上出一數(shù)值（0或其它）,一手按住探頭不動(dòng),另一手按住儀器側(cè)面"HL"鍵屏幕顯如右圖D,鐵基校準(zhǔn)完畢顯示“樣片一”。
拿掉探頭,把1號(hào)樣片（109 μm）放到鐵基上,拿探頭測(cè)量,屏幕上顯示出一數(shù)值。手按V住探頭不動(dòng),按住側(cè)面"HL"鍵屏幕顯示如圖B，1號(hào)樣片校準(zhǔn)完畢顯示“樣片二”。
拿掉探頭,把2號(hào)樣片（3113μm）放到鐵基上,拿探頭測(cè)量,屏幕顯示出一數(shù)值,手按住探頭不動(dòng),按住側(cè)面"HL"鍵,屏幕顯示“鐵基”。如圖C，樣片校準(zhǔn)完畢。
此時(shí)兩種樣片校準(zhǔn)完畢，可直接進(jìn)行測(cè)量，或把兩種樣片分別放在校準(zhǔn)鐵基測(cè)量，如超出誤差范圍，可對(duì)超出樣片重新校準(zhǔn)，校準(zhǔn)完畢，可直接進(jìn)行測(cè)量。
測(cè)量時(shí)要注意測(cè)量指示，箭頭消失以后再測(cè)量（如圖）。

3.在測(cè)量狀態(tài)下存儲(chǔ)
在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示
為測(cè)量值,如需存儲(chǔ)按動(dòng)儀器上面“+”鍵，存儲(chǔ)地址自動(dòng)加1，例如前地址為005，測(cè)量厚度值為166um存儲(chǔ)后
屏顯如圖E：
屏顯結(jié)果只能被存儲(chǔ)一次，如需另外存儲(chǔ)可重新測(cè)量。在測(cè)量狀態(tài)下，長(zhǎng)按“-”鍵，存儲(chǔ)序列號(hào)就會(huì)回歸至當(dāng)前地址001，即開始重新存儲(chǔ)。
4．設(shè)置使用：
   無論在什么狀態(tài)下按住“號(hào)”菜單儀器三種功能循環(huán)顯示，循環(huán)方式為：存儲(chǔ)讀出------打印------通訊，按“+/-”選擇。（如圖F）例如要設(shè)為“打印”狀態(tài)，在箭頭指向“打印”標(biāo)志時(shí)再按ET鍵，儀器廠打印狀態(tài)。
（2）首先把打印機(jī)準(zhǔn)備好，把打印機(jī)插好聯(lián)線，裝入打印紙，接上電源，此時(shí)紅燈綠燈都亮，若是綠燈沒有亮則按動(dòng)“SEL”鍵，綠燈亮起說明打印機(jī)已準(zhǔn)備好，把打印機(jī)聯(lián)線另一頭三針插頭根據(jù)套紅管插針儀器帶紅點(diǎn)一側(cè)的方向，插入儀器。儀器在“打印”狀態(tài)時(shí)按“+”鍵，儀器開始打?。喊?/span>“-”鍵，儀器結(jié)束打印。
（3）通訊
打開通訊軟件，把軟件上的“打開串口”打開，其它設(shè)置都是默認(rèn)設(shè)置，儀器在“通訊”狀態(tài)時(shí)按“+”鍵，儀器開始通訊；按“-”儀器結(jié)束通訊
四、注意事項(xiàng)：
（１）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。
（２）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。
（３）為保證測(cè)量精度，校正在開機(jī)10分鐘后進(jìn)行。
五：影響測(cè)量的若干因素
基體金屬磁化
磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片
上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
       基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
       邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
       曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
       表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在
不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置
探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形
探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量.表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
 

 附一    裝箱單

一、RJTC-9000型型涂層測(cè)厚儀             一臺(tái)

二、3.6v充電器                   一個(gè) 

三、3.6v充電電池                二節(jié)

四、探頭                              一支

五、標(biāo)準(zhǔn)樣片          一盒

六、鋁合金箱                          一個(gè)