JDSU多應(yīng)用平臺(tái)(MAP-200)是一個(gè)光學(xué)測試和測量平臺(tái),是光傳輸網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的研發(fā)和生產(chǎn)測試的工具。當(dāng)今瞬息萬變的光通訊產(chǎn)品市場,需要在能夠提高生產(chǎn)率的技術(shù)和工具上進(jìn)行投資,而即使在zui嚴(yán)格的環(huán)境下,MAP-200可擴(kuò)展測試平臺(tái)也是zui合適之選。
基于上一代多應(yīng)用平臺(tái)(MAP),新MAP-200的不同之處在于將更多的模塊組合放在了這個(gè)zui密集和有可配置性的平臺(tái)上。無論是對(duì)于研發(fā)實(shí)驗(yàn)室,還是產(chǎn)品生產(chǎn)線,MAP-200都是測試工具的*選擇,功能涵蓋從插入損耗測試到色散代價(jià)測試。