HAST非飽和高壓加速老化箱應用范圍:
HAST非飽和高壓加速老化箱)主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。
HAST非飽和高壓加速老化箱設備特點:
1. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.
2. 圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.
3. 非飽和高壓加速老化試驗機水管采用銅管+喇叭口,精密設計,氣密性良好,耗水量少。
4. 型packing ,材質:耐高溫夕膠發(fā)泡成型,內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式*不同,可延長packing壽命.
6. 實驗開始前可將原來內箱之空氣抽出,并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內之純凈度.
7. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障提示.
8. 非飽和高壓加速老化試驗機機臺具有定時干燥功能 , 使試驗產品處于干燥狀態(tài).
9. 水箱采用16L大容量水箱,置于箱體底部,采用自動補水功能;試驗不終斷 ; 試驗結束時設備會自動瀉除壓力.
HAST非飽和高壓加速老化箱滿足標準:
1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22
HAST非飽和高壓加速老化箱規(guī)格參數:
型號 PCT-250 PCT-350 PCT-450 PCT-550 PCT-250 M PCT-350 M
控制器 微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器
分辨率 溫度:0.1壓力:指針式0.1
控制穩(wěn)定度 溫度:±0.5℃,濕度:
內箱材質 SUS316#不銹鋼
外箱材質 鋼板烤漆或不銹鋼(依客戶選擇)
尺寸(cm) 內箱 Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45
外箱 W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135 W86×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125
溫度范圍 110℃~132℃ 110℃~147℃
濕度范圍 RH飽和蒸氣
壓力范圍 表壓力+0.2~2.0kg/cm2 表壓力+0.2~3.5kg/cm2
加壓時間 大約45分鐘 大約55分鐘
循環(huán)方式 水蒸氣自然對流循環(huán)
安全保護 感溫器檢測保護,階段高溫保護,階段高壓保護,箱門壓力限制,水箱缺水報警斷電,溫度加熱器保護,濕度加濕器保護,二階段高溫保護,二階段高壓保護,三階段緊急泄壓保護,,手動泄壓保護,自動泄壓等。
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