美國博曼X射線鍍層測厚儀 薄膜測厚儀 X-RAY膜厚儀
美國博曼X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*。
十多年來，深圳金東霖科技一直服務于PCB 廠商、
金鎳膜厚測試儀的技術(shù)參數(shù):
1.BOWMAN X-RAY BA100是采用根據(jù)技術(shù)標準的X-射線熒光測試方法；
2.原始射線從下*；
3.X-射線管高壓設定可調(diào)節(jié)至*的應用：50kV，40kV或30kV；
4.準值器組：圓直徑為0.2,另可增加0.1，0.3，1.5準直器
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）450 mm×450 mm×600 mm，重量大約為30kg
8.試件查看用標準的彩色攝像機；
9.測量開始/結(jié)束按鈕，及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體。
金鎳膜厚測試儀的優(yōu)點
> 采用上的、穩(wěn)定性的射線源，體積小，使用壽命長，易維護。
> 設備結(jié)構(gòu)簡潔、操作簡單、部件更換快速、簡單，便于維護。
> 無需使用標準片技術(shù)保證了系統(tǒng)的*精度。
> 快速、連續(xù)、非接觸測量、實時顯示高精度測量值。
> 操作站：提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太網(wǎng)平臺，使用的JAVA 技術(shù)。
> 采用雙放大技術(shù)和*大電離室，提升測量范圍及精度。
規(guī)格描述：
1 X射線激發(fā)系統(tǒng)：垂直上照式X射線光學系統(tǒng)。
2 快速、精確的分析：大面積正比計數(shù)探測器和博曼儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強度大、斑點小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供*靈敏度
3 準直器程控交換系統(tǒng)：可同時裝配4種規(guī)格的準直器。
4 的*穩(wěn)定性：自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結(jié)果
5 例行進行簡單快速的波譜校準：可自動檢查儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正，堅固的工業(yè)設計，可在實驗室或生產(chǎn)線上操作。
6 簡單的元素區(qū)分：通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜，性能優(yōu)化
7 可分析的元素范圍大：預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法
8 測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應用，基本分析功能采用基本參數(shù)法校正。
9 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
