主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn):
· 一個緊湊的單元中綜合了如下功能:精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器
· 接觸檢測功能確保了高速及準(zhǔn)確的測量
· 每秒10,000個讀數(shù)和5,500個源-測量點(diǎn)記錄到存儲器,提供了更快速的測試
· 內(nèi)置的測試腳本處理器(TSP™)提供非并行系統(tǒng)的自動化測試,將I-V測試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍
· 2600系列提供寬動態(tài)范圍:1pA到10A,1μV到200V
· TSP-Link™主/從控制架構(gòu)將多臺2600數(shù)字源表無縫地整合成一個系統(tǒng),將其作為一臺獨(dú)立的儀器進(jìn)行編程和控制
· 免費(fèi)的測試腳本編輯軟件--Test Script Builder,可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測試腳本,實(shí)現(xiàn)用戶特定的測試功能
· 免費(fèi)的LabTracerTM2.0 軟件,無需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線,易學(xué)易用
· 每個40W,3A的通道都是獨(dú)立的,從而保證了高度的測量完整性和配置的靈活性
· 業(yè)界zui高的SMU機(jī)架密度特別適合自動化測試的應(yīng)用
型號 | 通道數(shù) | zui大電壓 | zui大電流(直流/脈沖) | zui小電流 | A/D轉(zhuǎn)換器 | TSP-Link | 數(shù)字I/O |
2601B | 1 | 40V | 3A/10A | 100fA | 積分 | 是 | 是 |
2602B | 2 | 40V | 3A/10A | 100fA | 積分 | 是 | 是 |
2604B | 2 | 40V | 3A/10A | 100fA | 積分 | 是 | 是 |
2611B | 1 | 200V | 1.5A/10A | 100fA | 積分 | 是 | 是 |
2612B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 100fA | 積分 | 是 | 是 |
2614B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 100fA | 積分 | 是 | 是 |
2634B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 0.1fA | 積分 | 是 | 是 |
2635B | 1 | 200V | 1.5A/10A | 0.1fA | 積分 | 是 | 是 |
2636B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 0.1fA | 積分 | 是 | 是 |
2651A | 1 | 40V | 10A/50A | 100fA | 積分和數(shù)字化 | 是 | 是 |
2657A | 1 | 3000V | 120mA/120Ma | 1fA | 積分和數(shù)字化 | 是 | 是 |
型號 | 特性 | 益處 |
2601B(單通道) | *40V,單通道電流; 3A直流;10A脈沖 | 對大多數(shù)電流器件、材料、元件和組件進(jìn)行測試 |
2602B/2604B(雙通道) | 分辨率100fA,100nV | 作為精確和穩(wěn)定的電流/電壓信號源,并進(jìn)行測試 |
2611B(單通道) | *200V,單通道電流; 1.5A直流;10A脈沖 | 對多種大電流器件,材料,元件和組件進(jìn)行測試 |
2612B/2614B(雙通道) | 分辨率100fA,100nV | 作為精確和穩(wěn)定的電流/電壓信號源,并進(jìn)行測試 |
2635B(單通道) | *200V,單通道電流;1.5A直流;10A脈沖 | 對多中國器件和材料進(jìn)行測試 |
2636B/2634B(爽通道) | 分辨率0.1fA,100nV | 對*半導(dǎo)體和納米技術(shù)器件以及精細(xì)材料(如石墨烯)進(jìn)行精確測量 |
所有型號 | 可擴(kuò)展TSP-Link架構(gòu)(2604,2614,2634B無此功能) | 提高系統(tǒng)級速度,已降低測試成本;支持真正多通道并行測試;在不增加主機(jī)成本前提下,對測試系統(tǒng)進(jìn)行擴(kuò)展 |
TSP(嵌入式測試腳本處理器)架構(gòu) | 提高系統(tǒng)級速度,降低成本 | |
4象限設(shè)計(jì) | 拉/灌電壓和電流,提供更全面、更迅速的解決方案 | |
任意波形發(fā)生器,占空比為1%~ | *可以定制信號源,滿足特殊器件需求,并實(shí)現(xiàn)自加熱效應(yīng)zui小化 | |
多種軟件解決方案 | 促進(jìn)研發(fā),*和生產(chǎn)應(yīng)用;迅速建立和進(jìn)行測試 |
附件提供
2600-ALG-2:帶鱷魚夾的低噪聲三同軸測試導(dǎo)線,2m(6.6ft)(2636A配兩條,2635A配一條)
2600-IAC:安全互鎖適配器接頭(2611A/2612A和2635A/2636A配一個)
2600-Kit:配套螺旋接頭(2601A/2602A/2611A/2612A)
CA-180-3A:TSP-Link/以太網(wǎng)線(每臺兩條)
TSP Express軟件工具(嵌入式)
Test Script Builder軟件(CD內(nèi)提供)
ACS基礎(chǔ)版軟件(可選)
標(biāo)準(zhǔn)附件
操作員與編程手冊,全部信號指標(biāo),TSP Express與測試腳本建立器軟件,LabView驅(qū)動
基本測試電纜(除了2657A,均可以選擇)
電源線
1年保修期
可選附件
2601B,2602B,2604B,2611B, 2612B,2614B | 2600-3軸 | 3軸電纜適配器 |
2600-BAN | 香蕉測試 | |
8606 | 2600-BAN探測套件 | |
2635B,2634B,2636B | 2600-Std-Res | Cal Std 1GΩ電阻器 |
2651A | 2651-KIT-2,-3 | 同軸電纜總成(2m,3m) |
2657A | HV-CA-554-X | HV 3軸到HV 3軸電纜 |
| SHV-CA-552-X | SHV到HV 3軸電纜 |
| HV-CA-571-3 | HV 3軸無端接電纜 |
2657A安全附件
2657A-PM-200 200V保護(hù)模塊
2657A-LIM-3 低護(hù)連模塊
其他附件
機(jī)架2安裝套件 | 4299-1 | 單機(jī)架安裝套件 |
4299-2 | 雙機(jī)架安裝套件 | |
4299-6 | 2651A,2657A后機(jī)架裝套件 | |
4299-5 | 1U通風(fēng)面板 | |
GPIB插卡與電纜 | KUSB-488 | USB至IEEE-488轉(zhuǎn)換器 |
KPCI-488LPA | 小型IEEE-488轉(zhuǎn)換器 | |
7006-x,7007-x | GPIB屏蔽電纜 | |
測試夾具 | 8010 | 3000V,100A測試夾具 |
8011 | 40V,50A測試插座套件 | |
8101-41TRX | 4引腳晶體管測試夾具 |
26XX-EX 延長保修期1年
26XX-3-EW 延長保修期3年
校準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)符合Cal數(shù)據(jù) ISO 17025認(rèn)可
相關(guān)應(yīng)用:
對多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測試和特性分析,包括:
· 分立的和無源的元器件
· 雙引腳 - 電阻、盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
· 三引腳 - 雙極型小信號晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET)等
· 并行測試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
· 簡單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器
· 集成的器件-小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)
· 模擬IC
· 射頻集成電路(RFIC)
· 應(yīng)用定制的集成電路
· 系統(tǒng)級芯片(SOC)器件
· 光電器件如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器 上述器件的研發(fā)和特性分析