高溫?zé)龣C(jī)老化房應(yīng)用范圍:
高溫?zé)龣C(jī)老化房又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)室、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱、兩箱移動高溫?zé)龣C(jī)老化房、三槽高溫?zé)龣C(jī)老化房稱為冷熱沖擊機(jī),用于電子電器零組件、自動化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測試工具.
高溫?zé)龣C(jī)老化房規(guī)格:
內(nèi)尺寸:50×60×55㎝(W*D*H)╳2內(nèi)容積:165L*2臺
外尺寸:115×158×184㎝(W*D*H)
溫度范圍:-70℃~+150℃(氣冷式)
濕度范圍:10%~98%RH
降溫速率:20℃~-70℃/85min(空載下)
升溫速率:20℃~+150℃/45min(空載下)
發(fā)熱負(fù)載:250W.(40℃,90%RH)
溫度穩(wěn)定度:±0.2℃
濕度穩(wěn)定度:±2%
質(zhì)量保證:
供方的產(chǎn)品,自售出之日起實(shí)行“三包”,質(zhì)量保證期為驗(yàn)收合格之日起壹年。在保修期內(nèi),非用戶原因造成的零部件損壞,免費(fèi)更換(易損件不在保修范圍內(nèi))。
高溫?zé)龣C(jī)老化房滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;
4、國GJB150.3-86;
5、國GJB150.4-86;
6、國GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
11、GB/T2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則,
13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))
為了仿真不同電子構(gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境,縮短測試時(shí)間,降低測試費(fèi)用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為:TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
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