供應E5070B E5070B E5070B譚艷飛
公司名稱:深 圳 儀 信 電 子 科 技 有 限 公 司
:譚艷飛(總)——李玲(特助)
手機: 譚S 李S
技術(shù)咨詢:蔣工
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E5070B Agilent E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀
Agilent E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了zui快、zui精確的射頻器件測量能力。其*的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,進一步提高了測試吞吐率。
300 kHz 至 3GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ® for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?/span>
主要技術(shù)指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?br />要技術(shù)指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
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測量向?qū)е周浖?br />要技術(shù)指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?/span>