鍍膜厚度的縱向、橫向均勻度是鍍膜制品重要質(zhì)量和技術指標。鍍膜產(chǎn)品的光密度（ 光密度 = LOG（1/透過率））和鍍層厚度成正比例關系，鍍層厚度越厚，光密度值越大，透過率越低。所以通過測量鍍膜產(chǎn)品的光密度可以監(jiān)控鍍膜層的厚度。
真空鍍膜在線鍍層厚度檢測裝置，適用于各類鍍膜生產(chǎn)線上，通過選擇監(jiān)控產(chǎn)品的可見光透過率，紅外線透過率和光密度值（OD），來達到在線檢測和分析產(chǎn)品鍍層厚度，鍍層厚度的均勻性等性能
鍍膜厚度的縱向、橫向均勻度是鍍膜制品重要質(zhì)量和技術指標。鍍膜產(chǎn)品的光密度（ 光密度= LOG（1/透過率））和鍍層厚度成正比例關系，鍍層厚度越厚，光密度值越大，透過率越低。所以通過測量鍍膜產(chǎn)品的光密度可以監(jiān)控鍍膜層的厚度。
真空鍍膜在線鍍層厚度檢測裝置，適用于各類鍍膜生產(chǎn)線上，通過選擇監(jiān)控產(chǎn)品的可見光透過率，紅外線透過率和光密度值（OD），來達到在線檢測和分析產(chǎn)品鍍層厚度，鍍層厚度的均勻性等性能是否在工藝要求之內(nèi)。以便操作人員及時了解產(chǎn)品質(zhì)量，如有問題，及早發(fā)現(xiàn)及調(diào)整工藝，提高產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品的廢品率。
此儀器提供雙路的RS485通訊接口，標準的MODBUS通訊協(xié)議，方便和PLC，單片機，人機界面，電腦等通訊。鍍膜機可以直接讀取此設備的光密度數(shù)據(jù)，實現(xiàn)控制自動化（閉環(huán)控制）。
一：真空鍍膜在線測厚儀的參數(shù)
1.測試波長：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇：
l 紅外線：850 nm（默認選項，抗*力強）
l 可見光：白光 380nm-760nm
l 綠光： 530nm
2.透過率測量精度：優(yōu)于±1%
3.透過率分辨率：0.005%；
4.光密度測量范圍：0.00OD --- 5.00 OD
5.光密度的分辨率：
0.01 for 0.00 - 3.00 OD
0.05 for 3.00 - 5.00 OD
6.zui大測量點數(shù)：36點
7.相鄰探測頭之間距離：zui小
8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm
9.溫度范圍： -20°C --- +70°C
10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms
11.儀器整體尺寸：
12.需真空法蘭電極芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控）
13.電源：220VAC/50Hz
14.通訊：雙路RS485
二：真空鍍膜在線測厚儀的特點
1. 一體化設計，結構簡單，現(xiàn)場安裝維護方便
2. 防塵設計
對于鍍膜過程中的粉塵（如鍍鋁過程）會影響測量光學系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用防塵設計，粉塵不會影響光學系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光學系統(tǒng)的鏡頭玻璃即可，方便維護。
3. 真空室的電子設計
真空環(huán)境中，和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別，經(jīng)過多次真空試驗和現(xiàn)場應用，成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問題。
三：真空鍍膜在線測厚儀的組成
1：設備分為三部分：探測系統(tǒng)、人機交互設備、電腦實時監(jiān)控系統(tǒng)。
l 探測系統(tǒng)
主要包括光源，接收器，控制器和支架（測試點的多少，根據(jù)用戶要求定制，測試點數(shù)一般是3的整數(shù)倍，如3、6、9、12、15等）。
l 人機交互設備
7寸LCD人機交互界面，顯示各個測試點的透過率和光密度數(shù)據(jù)。實時數(shù)據(jù)，柱狀圖顯示方式，上下限，基準值設置及顯示。
l 電腦實時監(jiān)控系統(tǒng)（選配）
所有測試點數(shù)據(jù)的實時監(jiān)控。包含實時顯示、柱狀圖、上下閾值設定、實時曲線，越限報警等。透光率與光密度的顯示可自由切換。
歷史數(shù)據(jù)存儲，分析和報表功能。整卷膜在其對應長度上，都有數(shù)據(jù)記錄和分析。如果已知鍍膜機的運行速度，可以出報表分析整卷膜在對應長度的光學指標，做到整卷膜鍍層厚度和均勻性可追溯。
2：真空鍍膜在線測厚儀示意圖。
此設備可以實現(xiàn)和PC，人機界面，PLC，單片機，鍍膜機控系統(tǒng)通訊，實現(xiàn)監(jiān)視和控制。
