博曼臺(tái)式膜厚儀提供：
（1）無損分析：無需樣品制備
（2）經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益
（3）操作簡(jiǎn)單，只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
（4）分析只需三步驟
（5）杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
（6）在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
（7）使用功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量，保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。
美國鍍層膜厚儀主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。無數(shù)次的發(fā)明,包括使用DCM自動(dòng)對(duì)焦方法和透明的準(zhǔn)值器，操作簡(jiǎn)單。不用調(diào)校.
X-射線管的距離也可測(cè)量，操作人員只需要調(diào)校樣品焦距便可以測(cè)量。
博曼膜厚儀可以同時(shí)測(cè)量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份，測(cè)量厚度可以從埃（?）至微米（um），它也能測(cè)量多至20個(gè)元素的塊狀合金成份。
測(cè)定元素：AL ～ U 。其光束和探測(cè)器的巧妙結(jié)合加上高級(jí)的數(shù)字處理技術(shù)能*地解決您的應(yīng)用。
在準(zhǔn)確度和重現(xiàn)性上具有*的性能。測(cè)量更小、更快、更薄
博曼膜厚儀比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測(cè)量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。
這是由包括準(zhǔn)直器、探測(cè)器、信息處理器和計(jì)算機(jī)等部件在內(nèi)的一整套系統(tǒng)完成的。
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