儀器特性及優(yōu)勢
• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標的無縫轉(zhuǎn)移
• 快速斷開式探頭,優(yōu)化了固體和液體的測量
• 無需樣品制備,無需試劑,無任何廢棄物
• 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
• 熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換,不會影響性能
儀器簡介
XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗、縮短產(chǎn)品滯留時間,zui小化實驗室分析時間而設(shè)計的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實驗室反應(yīng)監(jiān)測,并作為中試過程應(yīng)用的補充方案。配有兩種探頭:反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計允許其在苛刻危險的取樣環(huán)境中直接使用。
XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能,同時加快了了定標方法的研發(fā),縮短了實施時間,保證了定標的無縫轉(zhuǎn)移。使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成精準的分析。