LED老化試驗箱技術(shù)參數(shù):
型號:KW-GD-80 內(nèi)形尺寸:400×500×400 外箱尺寸:970×1360×970
型號:KW-GD-150 內(nèi)形尺寸: 500×600×500 外箱尺寸:1070×1460×1070
型號:KW-GD-225 內(nèi)形尺寸:500×750×600 外箱尺寸:1070×1610×1170
型號:KW-GD-408 內(nèi)形尺寸: 600×850×800 外箱尺寸:1170×1710×1280
型號:KW-GD-800 內(nèi)形尺寸:1000×1000×800 外箱尺寸:1550×1850×1300
型號:KW-GD-1000 內(nèi)形尺寸:1000×1000×1000 外箱尺寸:1550×1850×1500
1、產(chǎn)品型號:KW-GD-80/KW-GD-150/KW-GD-225/KW-GD-408/KW-GD-800/KW-GD-1000
2、容積分別:80L、150L、225L、408L、800L、1000L
3、溫度范圍:Z:0℃~150℃,T:-20℃~150℃,F(xiàn):-40℃~150℃,S:-70℃~150℃
4、溫度波動度:≤±0.5℃
5、溫度均勻度:≤±2℃
6、濕度波動:±2.5%R.H
7、升溫速率: 1.0~3.0℃/min
8、降溫速率: 1.0~1.3℃/min
符合標準:GJB150.3 高溫試驗 GJB150.4 低溫試驗GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件 GB10589 低溫試驗箱技術(shù)條件 GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法 GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法 GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法 IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法 IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
控制器操作運行畫面:
*制冷機組:
用于行業(yè):
LED老化試驗箱是LED行業(yè)產(chǎn)品*的可靠性試驗設(shè)備。用于測試LED、LCD、LED光電、LED顯示器、LED模組、電子、電器、連接器、五金、LED、LCD、模組、模塊、手機、塑膠、顯示器、二三極管、機箱、電鍍、插頭、電腦、玩具、電源、電線、IC、磁鐵、線路板、馬達、電機、汽車配件、家電、通信、化工、涂料、科研、航天、、模組、家具、主板、集成電路、太陽能光伏等領(lǐng)域。
設(shè)備用途:
LED高低溫老化試驗箱用來測試LED產(chǎn)品及以上產(chǎn)品的可靠性能。模擬環(huán)境溫度有高低溫、高溫、低溫、高低溫循環(huán)、高低溫恒定等不同溫度試驗。模擬LED產(chǎn)品及材質(zhì)經(jīng)過高溫、低溫交替變化后是否有故障、質(zhì)變、無法正常工作的情況,可以滿足不同的高低溫要求。高低溫試驗箱是實驗室品檢的*之設(shè)備。