x射線熒光光譜分析儀供應(yīng)技術(shù)參數(shù)：
激發(fā)源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
電壓及功率 40 kV, 40 W
探測(cè)器 大面積正比計(jì)數(shù)器，1100 mm²感應(yīng)面積
光斑尺寸 準(zhǔn)直器交換器，0.3 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數(shù)20-40倍
樣品臺(tái) 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)Z方向樣品臺(tái)，自動(dòng)對(duì)焦。
選項(xiàng)：馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z樣品臺(tái)，自動(dòng)對(duì)焦，便捷進(jìn)樣功能
定量分析 塊狀樣品：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法模型和無(wú)標(biāo)樣模型
鍍層分析：基本參數(shù)法模型
電源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率100 W
尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 46 kg
M1 MISTRAL（SDD）
激發(fā)源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
電壓及功率 50 kV, 50 W
探測(cè)器 電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測(cè)器，30 mm²感應(yīng)面積，對(duì)Mn-Ka能量分辨率小于150 eV
光斑尺寸 準(zhǔn)直器交換器，0.5 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數(shù)20-40倍
樣品臺(tái) 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z樣品臺(tái)，自動(dòng)對(duì)焦，便捷進(jìn)樣功能。
定量分析 塊狀樣品：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法模型和無(wú)標(biāo)樣模型
鍍層分析：基本參數(shù)法模型
電源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率120 W
尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 50 kg
x射線熒光光譜分析儀供應(yīng)采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各種不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品。樣品尺寸zui大可達(dá)100×100×100mm，無(wú)需任何處理，直接放在樣品臺(tái)上檢測(cè)。光管位于樣品上方，測(cè)量過(guò)程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復(fù)雜式樣的樣品，如精工細(xì)作的珠寶或不同厚度的樣品。
