顯微熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀 型號(hào):DP-SGW X-4B
點(diǎn):
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
主要參數(shù):
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 320℃ 時(shí))
溫度顯示Z小值:0.1℃
X-4
X-4A
X-4B
溫度顯示Z小值
1℃
0.1℃
0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式
單目顯微鏡
單目顯微鏡
雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)
40×
40×
40×-100×連續(xù)變倍
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