蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)的詳細(xì)信息:
蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù):
★型號(hào):SVT-340
★測(cè)試區(qū)尺寸(W×H×Dcm):50×40×17
★外型尺寸(W×H×Dcm):60×50×42
★控制精度:±0.5℃
★升溫時(shí)間:大約45分鐘
★蒸氣溫度:upto97℃
★計(jì)時(shí)功能:0~999H59M可調(diào)
蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)設(shè)備特點(diǎn):
★整體不銹鋼SUS#304HL制成,操作設(shè)定簡(jiǎn)易。
★微電腦數(shù)字LED控制,具時(shí)間規(guī)劃功能,大可設(shè)定9,990Mins.。
★多重超溫保護(hù)/缺水切電熱等安全裝置。
★零件、連接器被動(dòng)組件,半導(dǎo)體接腳高溫高濕氧化試驗(yàn)。
★金屬接腳沾錫性試驗(yàn)加速老化試驗(yàn)。
★采用觸摸式PID+SSR溫度控制器,同時(shí)具有時(shí)間計(jì)時(shí)功能,大可設(shè)定9990分式無限。
★全自動(dòng)安全超溫保護(hù)及氣用水缺水空焚保護(hù)裝置。
★水位控制:附水箱自動(dòng)補(bǔ)水。
★純水RO逆滲透自動(dòng)供水裝置.
蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)用途:
半導(dǎo)體的PCT測(cè)試:主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關(guān)問題。
HAST非飽和高度加速老化試驗(yàn)機(jī)的詳細(xì)信息:
一.選型示意:
◇R-HAST–350-2
◇R:瑞凱標(biāo)志
◇PCT:高壓加速
◇350:內(nèi)容積¢×D)
◇2:壓力范圍
◇2:+0.5—2kg/cm2
◇3:+0.5—3kg/cm2
二.蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品規(guī)格(mm):
◇型號(hào):HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000
◇型號(hào):HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100
◇型號(hào):HAST-400工作室尺寸:Φ400×D600外形尺寸D×W×H800×750×1150
◇型號(hào):HAST-500工作室尺寸:Φ500×D700外形尺寸D×W×H900×850×1250
三.蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹:
◇高壓鍋,PCT高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī),PCT高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗(yàn)機(jī),加速老化
◇壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過程,
◇縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
◆蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)優(yōu)勢(shì):
◇采用全自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)*中斷.
◇試驗(yàn)過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來的,能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過程。
◇干燥設(shè)計(jì),試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測(cè)試區(qū)(待測(cè)品)的干燥,確保穩(wěn)定性。
◇精準(zhǔn)的壓力/溫度對(duì)照顯示,*符合溫濕度壓力對(duì)照表要求。
艾思荔的主營(yíng)產(chǎn)品有:PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī),HAST高度加速壽命試驗(yàn)機(jī),可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫?zé)釢裨囼?yàn)箱、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、高低溫試驗(yàn)箱、快速溫變高低溫試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、鹽干濕復(fù)合鹽霧試驗(yàn)機(jī)、老化試驗(yàn)箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗(yàn)機(jī)、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備以及制程設(shè)備,有數(shù)十個(gè)系列近百種產(chǎn)品。
針對(duì)JESD22-A102的PCT試驗(yàn)說明:
用來評(píng)價(jià)非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。
樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),出封裝中的弱點(diǎn),如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗(yàn)用來評(píng)價(jià)新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計(jì)的更新。
應(yīng)該注意,在該試驗(yàn)中會(huì)出現(xiàn)一些與實(shí)際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制。由于吸收的水汽會(huì)降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時(shí),可能會(huì)出現(xiàn)非真實(shí)的失效模式。
外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會(huì)造成離子遷移不正常生長(zhǎng),而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。
濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護(hù)層針孔、裂傷、被覆不良處..等,進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面,造成腐蝕以及漏電流..等問題,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
JEDEGJESD22—A、102—B、PCT濕度試驗(yàn):
說明:PCT試驗(yàn)機(jī)執(zhí)行JEDECJESD22-A102-B飽和濕度(121℃/R.H.)的實(shí)際試驗(yàn)紀(jì)錄曲線,PCT試驗(yàn)機(jī)是目前業(yè)界機(jī)臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)建數(shù)字電子紀(jì)錄器的設(shè)備,可完整紀(jì)錄整個(gè)試驗(yàn)過程的溫度、濕度、壓力,尤其是壓力的部分是真正讀取壓力傳感器的讀值來顯示,而不是透過溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來的,能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過程。
PCB的PCT試驗(yàn)案例:說明:PCB板材經(jīng)PCT試驗(yàn)(121℃/R.H./168h)之后,因PCB的絕緣綠漆質(zhì)量不良而發(fā)生濕氣滲透到銅箔線路表面,而讓銅箔線路產(chǎn)生發(fā)黑現(xiàn)象。
HAST非飽和高度加速老化試驗(yàn)機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.IEC60068-2-66
2.JESD22-A102-B
3.EIAJED4701
4.EIA/JESD22
5.GB/T2423.40-1997
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: 李
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