詳細說明
TEK370A晶體管測試儀TEK370B主要參數(shù)：·半導(dǎo)體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源（370A） -上限到3000V（371A） -上限到220W（370A） -上限到400A（371A） -1nA的測量分辨率 -上限到3000W（371A） ·上限到2mV的測量分辨率（370A） ·波形對比 ·包絡(luò)顯示 ·波形平均 ·點光標(biāo)（370A） ·Kelvin傳感測量 ·全程控 ·MS-DOS兼容的軟盤，方便設(shè)置參孝存儲和調(diào)用應(yīng)用手動或自動進行半導(dǎo)體高分辨率DC參數(shù)測量來料檢查生產(chǎn)測試過程監(jiān)視及質(zhì)量控制數(shù)據(jù)報告的生成元件配對失效分析工程測試交互式程控所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調(diào)整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。測試夾具測試夾具是標(biāo)準(zhǔn)附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的A1001，中間通過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。 370A程控特性曲線圖示儀 370A是的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應(yīng)管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測試。在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作在制造過程中，用370A檢驗器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。 370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。技術(shù)指標(biāo) 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 zui大峰值電流（±） 峰值電流（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發(fā)生器 模式 階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程- 　 電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，按1-2-5順序 偏置 zui大到±10X階梯幅度 階梯數(shù) 0到10 測量特性 集電極電流- 　 測試量程： 100nA/div（1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標(biāo)讀出+0.05div設(shè)定值（點光標(biāo)） 發(fā)射極電流- 　 測試量程： 1nA/div（10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標(biāo)讀出+0.05div設(shè)定值+1nA 安全標(biāo)準(zhǔn) UL1244，CSA231，H