混泥土蓄熱系數(shù)測試儀 蓄a熱系數(shù)測試儀  型號：DP-XRY-II

混泥土蓄熱系數(shù)測試儀 蓄a熱系數(shù)測試儀  型號：DP-XRY-II產(chǎn)品簡介

DP-XRY-II蓄熱系數(shù)測試儀  （熱工性能測定儀）概述該儀器的點是：裝置簡單、準確度、試驗速度快（次試驗十分鐘左右），在次試驗中可同時測出材料的導熱系數(shù)，導溫系數(shù)和比熱，并且能測量不同含濕狀態(tài)下的熱物理性能。參考標準：JGJ51-2002（輕骨料混凝土規(guī)程）。蓄熱系數(shù)測試儀  （熱工性能測定儀）

混泥土蓄熱系數(shù)測試儀 蓄a熱系數(shù)測試儀  型號：DP-XRY-II主要性能 

1、應用范圍：本儀器適用于測定干燥或不同含濕狀況下勻質板狀、膠狀、粉未狀、顆粒狀材料的導熱系數(shù)、蓄熱系數(shù)、導溫系數(shù)和比熱。被測材料蓄熱系數(shù)范圍在0.1-30W/M2K  2、試樣大?。罕≡嚰K20×20×（1.5～3）cm厚試件兩塊20×20×（4～10）cm3、電    源                      ～220V，50HZ4、外形尺寸（長×寬×）        600×440×720（mm）5、工作條件①環(huán)境溫度        10～35℃    ②相對濕度     ≤80%③室溫要求穩(wěn)定   ≤±1.5℃6、測量結果的準確度      ±5%7、連接上位機,實現(xiàn)計算機自動測試、數(shù)據(jù)打印輸出。蓄熱系數(shù)測試儀  （熱工性能測定儀）基本原理該儀器以非穩(wěn)定導熱原理為基礎，在實驗材料中短時間加熱，使實驗材料的溫度發(fā)生變化，根據(jù)其變化的點，通過導熱微分方程的解，便可計算出試驗材料的蓄熱系數(shù)、導熱系數(shù)、導溫系數(shù)和比熱

法拉第效應塞曼效應綜合實驗儀         型號；DP-FD-FZ-C
1945年，法拉第（Faraday）在探索電磁現(xiàn)象和光學現(xiàn)象之間的時，發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉過個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現(xiàn)象后來稱為法拉第效應。1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數(shù)隨能的類別而不同，后人稱此現(xiàn)象為塞曼效應。法拉第效應和塞 曼 效應是19紀實驗物理學家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。 
　　本公司的DP- FD-FZ-C型法拉第效應塞 曼 效應綜合實驗儀是在I型的基礎上改而成，將原來維調節(jié)的氦氖激光器改為兩維調節(jié)的半導體激光器，這樣成法拉第效應時調節(jié)更加準確方便，并且激光輸出功率更加穩(wěn)定。電磁鐵中心磁場強度也比以前有了顯著提，Z大可以達到1.4T。測角儀器將原來的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線位移），這樣讀數(shù)更加方便。該實驗儀可以作為大院校光學及近代物理實驗教學使用，也可以作為測量材料性、 光譜及磁光 作用的研究應用。 
　　儀器主要參數(shù)： 
　　1. 半導體激光器 波長 650nm 輸出功率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm 
　　2. 電磁鐵 Z大磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關） 
　　3. 勵磁電源 Z大輸出電流 5A Z大輸出電壓 30V 
　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 
　　5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 
　　6．讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm 
　　7．法拉第效應 Z小測角約 2分

塞曼效應實驗儀(電磁型) 型號：DP-FD-ZM-B
 
1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數(shù)隨能的類別而不同，后人稱此現(xiàn)象為塞曼效應。 塞曼效應是繼英物理學家法拉第1845年發(fā)現(xiàn)磁致旋光效應，克爾1876年發(fā)現(xiàn)磁光克爾效應之后，發(fā)現(xiàn)的又個磁光效應。 塞曼效應不僅證實了洛侖茲電子論的準確性，而且為 湯姆遜 發(fā)現(xiàn)電子提供了證據(jù)。還證實了原子具有磁矩并且空間取向是量子化的。1902年，塞曼與洛侖茲因這發(fā)現(xiàn)共同獲得了諾貝爾物理學獎。直到今日，塞曼效應仍舊是研究原子能結構的重要方法。 
　　 FD-FZ-I型塞曼效應實驗儀具有磁場穩(wěn)定，測量方便，實驗分裂環(huán)清晰等點，適用于等院校近代物理實驗和性實驗。 
　　應用該實驗儀主要成以下實驗： 
　　1．掌握觀測塞曼效應的實驗方法， 加深對原子磁矩及空間量子化等原子物理學概念的理解。
　　2．觀察汞原子 546.1nm譜線的分裂現(xiàn)象以及它們偏振狀態(tài)，由塞曼裂距計算電子荷質比。 
　　3．學習法布里-珀羅標準具的調節(jié)方法 
　　4．學習CCD器件在光譜測量中的應用。（其中CCD器件、采集系統(tǒng)及實驗分析軟件選購） 
　　儀器主要參數(shù)： 
　　1. 電磁鐵 Z大磁感應強度 1.28T 勵磁電源 Z大輸出電流 5A Z大輸出電壓 30V 
　　2．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 
　　3．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 
　　4．干涉濾光片 中心波長 546.1nm 
　　5. 讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍8mm

磁塞曼效應實驗儀         型號；DP-FD-ZM-A
　在大院校的實驗教學中，塞曼效應是經(jīng)典的近代物理實驗內容，通過該實驗現(xiàn)象的觀察，可以了解磁場對光產(chǎn)生的影響，認識發(fā)光原子內部的運動狀態(tài)，加深對原子磁矩和空間取向量子化的理解，并測量電子的荷質比。 
　 DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應實驗儀與同類儀器相比具有以下點： 
　　1．磁場由磁鐵提供，具有穩(wěn)定性好，中心磁感應強度的點；并且通過機械調節(jié)改變磁頭間距，調節(jié)中心的磁感應強度。 
　　2．實驗儀的磁鐵和光學導軌固定連接，導軌由鋁合金型材制成，表面陽氧化，不生銹，并且導軌上配有標尺，這樣實驗調節(jié)方便，重復性好。 
　　3．實驗儀配有精度斯拉計，可以測定中心磁感應強度。 
　　DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應實驗儀主要由實驗儀主機（包括斯拉計、汞燈電源）、磁鐵、筆形汞燈、會聚透鏡、干涉濾光片、F-P標準具、偏振片、成像透鏡、讀數(shù)顯微鏡組成。選配件：象素CCD采集系統(tǒng)、USB口外置圖像采集盒、塞曼效應實驗分析軟件。 
　　儀器主要參數(shù)： 
　　1．磁鐵中心磁感強度 1360mT 
　　2．標準具通光口徑 40mm 
　　3．標準具空氣隙間隔 2mm 
　　4．濾光片中心波長 546.1nm 
　　5．讀數(shù)顯微鏡精度 0.01mm
　　6．斯拉計分辨率 1mT 
　　7．CCD有效象素（選配）752×582

表面磁光克爾效應實驗系統(tǒng)       型號；DP-FD-SMOKE-A
在 1845年，Michael Faraday發(fā)現(xiàn)了磁光效應，他發(fā)現(xiàn)當外加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發(fā)生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時，發(fā)現(xiàn)了磁光克爾效應(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學者行鐵薄膜磊晶成長在金單晶(100)面上的磁光克爾效應量做實驗，成功地得到原子層厚度磁性物質之磁滯回線，并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫，用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達原子層厚度，且儀器配置合于真空系統(tǒng)之工作，因而成為表面磁學的重要研究方法。 
　　它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統(tǒng)可以自動掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統(tǒng)可以和真空系統(tǒng)相連，對磁性薄膜和薄膜行原位測量。 
　　儀器主要參數(shù)： 
　　1．半導體激光器 波長 650nm 輸出功率 2mW 
　　2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％ 
　　3．電磁磁鐵 中心Z大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm 
　　4．恒流電源 Z大電壓 38V Z大輸出電流 10A

注:產(chǎn)品詳細介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應的