遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀也稱為遠(yuǎn)紅外線放射率測(cè)試器，遠(yuǎn)紅外測(cè)試儀，本測(cè)量器可以用非常簡(jiǎn)單且高精度的方式,測(cè)量在常溫中的各種物體的放射率。是本公司自身的產(chǎn)品。遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀也稱為遠(yuǎn)紅外線放射率測(cè)試器，遠(yuǎn)紅外測(cè)試儀早已經(jīng)由宇宙開発、原子力、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)等的*技術(shù)分類上所采用。從研究開発應(yīng)用至生產(chǎn)線上的應(yīng)用等，可供活用的范圍非常廣泛。選配：記錄器，可將所測(cè)量值記錄并連接PC獲取數(shù)據(jù)及繪制曲線，分析放射曲線、zui大、zui小、平均值。應(yīng)用： 1、在機(jī)器的熱設(shè)計(jì)中必須使用的零件的放射率測(cè)量； 2、藉由放射溫度計(jì)的測(cè)量物體來補(bǔ)正放射率； 3、各種零件的加工／處理前后的放射率比較； 4、其他、從零件的放射率求取物體本身的放射率等； 5、材料*、實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域必須的檢測(cè)分析設(shè)備。 產(chǎn)品構(gòu)成：１．紅外線照射源藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐，在試料中集中照射。２．紅外線檢驗(yàn)素子從試料反射出的能量的一部分，射進(jìn)半球面黒體爐的頂點(diǎn)的小孔，用一定比率做檢驗(yàn)。注：比率是依據(jù)光學(xué)系的構(gòu)造來決定。３．放射率演算回路從反射能量檢驗(yàn)器的輸出，演算試料的放射率。注：試料的反射率和放射率的關(guān)系式如下：r εε＝１－r ４．放射率表示値的校正利用附屬的放射率基準(zhǔn)片（ε＝０．０６與０．９４）做校正測(cè)量原理：利用恒溫放射的遠(yuǎn)紅外線放射源，將能量照射后計(jì)算所反射的能量。測(cè)量波長(zhǎng)：2-22μｍ測(cè)量范圍：0.00-1.00 額定精度：±0.01 測(cè)量面積：Φ15mm 測(cè)量距離：12mm（固定偵測(cè)頭的腳柱部）被測(cè)物溫：10-40℃（室溫）輸　　出：0-0.1V，0-1V（滿載）使用溫度：10-45℃ 使用濕度：35-85%RH（未結(jié)露、霜之狀態(tài)）使用電源：AC100V ±10%，50/60Hz 外型尺寸：偵測(cè)頭Φ51X137mm（0.5Kg） 本　體H170X W306ｘD230mm（5Kg）附屬裝置：放射率0.94、0.06基準(zhǔn)片各一片。