微電腦膜式氣體流量校準儀/煙塵（煙氣）流量校準儀  型號：DP/DML-2

微電腦膜式氣體流量校準儀/煙塵（煙氣）流量校準儀  型號：DP/DML-2點：動態(tài)容積法氣體流量校準裝置，具有體積小，重量輕，操作方便，顯示直觀的點，是環(huán)保勞動衛(wèi)生，科研，工礦等校準中、小氣體流量計的儀器。
　　點：不需人工看膜與手動計時，微電腦自動測量，消除了人為的操作誤差。數(shù)據(jù)自動處理，結果直接顯示，經(jīng)中計量科學院檢定出廠。各種參數(shù)可按工況改寫，自動換算成標準狀態(tài)下的流量。

微電腦膜式氣體流量校準儀/煙塵（煙氣）流量校準儀  型號：DP/DML-2參數(shù)
　　流量范圍： 50~2000mL／min
　　重現(xiàn)性： ≤0.25％
　　精度： 1
　　電源： DC5V（四節(jié)五號電池）

手持式四探針測試儀/四探針電阻率儀／方阻儀 型號：DP-M3
概述      DP-M3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。
      成套組成：由DP-M3主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
      探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
      
儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。 
三、基本參數(shù)1. 測量范圍、分辨率
    電    阻:   0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
    電 阻 率:   0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
    方塊電阻:   0.050～ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可測材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
    直    徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。
    DP-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
    長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
    測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等
量程（Ω-cm/□） 2.000 20.00 200.0 2.000k 20.00k 
電阻測試范圍 0.010～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～50.00k 
電阻率/方阻 0.010/0.050～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～20.00k 
基本誤差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB
4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈   重：≤0.3kg

手持式數(shù)字式四探針測試儀/四探針電阻率/方阻測試儀 型號:DP-M2
概述
       DP-M2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
主機主要由數(shù)控恒流源，分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉換量程。儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；全自動轉換量程；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
      探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
    電    阻：     0.010 ～ 9999Ω,    分辨率0.001 ～ 1 Ω
    電 阻 率：     0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
    方塊電阻：     0.050～ 2000Ω/□   分辨率0.001 ～ 1 Ω/□ 
2. 材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定
   直    徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。
   DP-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
   長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
   測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等
量程（Ω-cm/□） 9.999 99.99 999.9 9999. 
電阻測試范圍 0.010～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～9999 
電阻率/方阻 0.010/0.050～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～2000 
基本誤差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈   重：≤0.5kg

純水機/純水儀 型號：DP27034

產(chǎn)品介紹

結構：
由鐵板、低壓開關、水泵、膜殼、壓開關、反沖壓閥、變壓器、濾瓶蓋、*道濾瓶、第二道濾瓶、第三道濾瓶等部件組成。
規(guī)格參數(shù)：
額定電壓：220V/50Hz
額定功率：28.8W
適用水壓：0.03～0.6Mpa
純水機工作壓力：≤0.6Mpa
水水溫：4～45℃
產(chǎn)水量：10L/h，水質符合GB 6682-1992三。

全功能導電類型鑒定儀/導電型號鑒別儀/PN型號測定儀 型號:DP-ST13
概述
      DP-ST13型導電類型鑒定儀是運用熱電勢法原理和整流法鑒定半導體導電類型(PN類型)的儀器。
     儀器成套組成：本儀器由主機和兩套探頭等部件組成。導電類型P或N由數(shù)碼管顯示。探頭由冷、熱兩根配套使用。
      優(yōu)勢征：
      熱電勢法中，熱探針具有恒溫可調功能，以適應寬范圍低電阻率導電類型測試的需要！冷、熱探針都采用即插式，方便更換。
     整流法中，運用整流法原理鑒定半導體導電類型的儀器，同時兼?zhèn)錅y試重摻的功能。
     本儀器關鍵器件采用用集成電路，并采用優(yōu)質貼片工藝，儀器具有鑒定范圍寬、靈敏度、穩(wěn)定性好、使用方便等點。適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校等對寬范圍別是低電阻率半導體材料的導電類型(PN類型)測試的需要！ 
三、參數(shù)
1. PN 鑒定范圍：
    熱電勢法ρ=1×10-4～1.0×103 Ω-cm，整流法  ρ=1×10-2～1.0×104 Ω-cm
2. 可測半導體材料尺寸：
    PN 鑒定 ：可接觸面 Smin= 3mm*3mm
3. 探頭參數(shù)：
    熱電勢法  ⑴熱探頭： 溫度調節(jié)范圍60℃～200℃，探針：鍍鎳“不老頭”
              ⑵冷探頭： 單針式，
    整流法，  鋼針鍍鎳
4. 電源：    
    220V±10%   50Hz，
    功     耗： <20W
5．工作環(huán)境：
    溫    度：   -10℃～40℃ ，相對濕度：    50%～70%
    工作室內(nèi)應無強電磁場干擾
6. 外形尺寸及重量：
    主機： 175mm（長）×200 mm（寬）×70mm（）重量： 約1kg

注:產(chǎn)品詳細介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應的