美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀主要特點(diǎn)
★搭載樣品尺寸的兼容性，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品
★具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測量
★彩色CCD攝像頭，通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
★鹵素?zé)粽彰?/p>
*介紹：
金東霖科技有限公司是美國博曼X射線鍍層膜厚測試儀中國區(qū)一級專業(yè)代理商，集銷售、保養(yǎng)、校正（調(diào)試）及維修等專業(yè)服務(wù)一體化 ，讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標(biāo)！
*性能功能特點(diǎn)
◆ 操作簡單，測試速度快，靈敏度好，測量精度高
◆區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多4層及24種元素。
◆精確度于世界，精確到0.025mil
◆數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求,如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
◆連接電腦進(jìn)行通信,讀出存貯數(shù)據(jù)進(jìn)行保存或打?。ㄟm用U型主機(jī)）
◆統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
◆設(shè)有四個統(tǒng)計功能：zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、平均值（MEA）、測量次數(shù)（No）
◆可測量任一測量點(diǎn)，zui小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
*儀器參數(shù)：
A、測量范圍：0-1250/3000μm
B、使用環(huán)境：溫度：18℃-25℃,濕度：
C、zui薄基體：0.15mm
I、外形尺寸：450mm*450mm*600mm
J、重量：30Kg
K、電源：50KV
D、測量精度：±（1%-3%）+1.5μm
E、分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）
F、zui小基體面積10*10mm
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